PHI5000 VersaProbeIII是PHI扫描XPS微探针设备最*新产品,应用了PHI业界领xian的ZL扫描X-射线技术和ZL双束中和技术,成为更高水平的多功能分析仪器。 最*新技术: ●新的分析器输入透镜,将灵敏度提高了两到三倍。 ●新的多通道探测器使得元素和化学态成像速度更快。
PHI5000 VersaProbeIII是PHI扫描XPS微探针设备*新产品,应用了PHI业界的扫描X-射线技术和双束中和技术,成为更高水平的多功能分析仪器。 *新技术: l新的分析器输入透镜,将灵敏度提高了两到三倍。 l新的多通道探测器使得元素和化学态成像速度更快。 l新的变角分析技术(ADXPS)收集角可达+/-5°,改善深度分辨率。
PHI VersaProbe III是独特的扫描 X射线单色化的 XPS设备,具有**的大面积和微区分析能力。其设计需求是为快速地,空间分辨分析固体表面的元素和化学态组成。PHI VersaProbe III 结合独特的扫描单色化 X 射线和自动化样品控制以及分析区域识别系统,可在自动化环境下实现化学态成像和多点图谱分析功能。
这项工作证明了基于薄膜的光阳极的界面工程在实现高效光电化学水分解制氢方面起着关键作用。 图1 (a) Mg:GaN/Nb的UPS谱图。(b) In:GaN/Nb的UPS谱图。(c) In:GaN/Ta3N5/Mg:GaN薄膜的能级排列示意图。(UPS数据由PHI 5000 VersaProbe III搭载的UPS配件测得) 值得注意的是,UPS结合低能量反光电子能谱(LEIP...
图1 (a) Mg:GaN/Nb的UPS谱图。(b) In:GaN/Nb的UPS谱图。(c) In:GaN/Ta3N5/Mg:GaN薄膜的能级排列示意图。(UPS数据由PHI 5000 VersaProbe III搭载的UPS配件测得) 值得注意的是,UPS结合低能量反光电子能谱(LEIPS),可以获得完整的电子能带结构。在一项发表于《Nature》3的工作中,作者研究了通过共轭碳网...
图1 (a) Mg:GaN/Nb的UPS谱图。(b) In:GaN/Nb的UPS谱图。(c) In:GaN/Ta3N5/Mg:GaN薄膜的能级排列示意图。(UPS数据由PHI 5000 VersaProbe III搭载的UPS配件测得) 值得注意的是,UPS结合低能量反光电子能谱(LEIPS),可以获得完整的电子能带结构。在一项发表于《Nature》3的工作中,作者研究了通过共轭碳网...
图1 (a) Mg:GaN/Nb的UPS谱图。(b) In:GaN/Nb的UPS谱图。(c) In:GaN/Ta3N5/Mg:GaN薄膜的能级排列示意图。(UPS数据由PHI 5000 VersaProbe III搭载的UPS配件测得) 值得注意的是,UPS结合低能量反光电子能谱(LEIPS),可以获得完整的电子能带结构。在一项发表于《Nature》3的工作中,作者研究了通过共轭碳网...
图1 (a) Mg:GaN/Nb的UPS谱图。(b) In:GaN/Nb的UPS谱图。(c) In:GaN/Ta3N5/Mg:GaN薄膜的能级排列示意图。(UPS数据由PHI 5000 VersaProbe III搭载的UPS配件测得) 值得注意的是,UPS结合低能量反光电子能谱(LEIPS),可以获得完整的电子能带结构。在一项发表于《Nature》3的工作中,作者研究了通过共轭碳网...
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为了对电池开展深入研究,该研究院采购了PHI XPS 设备(PHI 5000 Versaprobe III)。在PHI 公司售后和应用团队的支持下,该设备一直保持着出色的运行状态,为相关研究提供了大量重要实验数据,至今已在Advanced Science、Advance Energy Materials、ACS Energy Letters、Carbon及Chemical Engineering Journal等国内外顶级期刊发表...