sp2碳~284 sp3碳284.8 实验信息 采集C1s、C KLL 和价带区域。 使区分 sp2 碳和 sp3 碳的能力达到最大。 C KLL 采集条件:通能=100 eV,步长=0.5 eV,扫描次数100,扫描范围结合能=1190 eV-1246 eV。 可能需要进行电荷中和,尤其是功能化石墨烯/石墨或金刚石。
石墨烯的C 1s峰常常会出现两个不同位置的分峰,分别对应于sp2杂化碳原子和sp3杂化碳原子。 2. O 1s峰:石墨烯XPS光谱中的O 1s峰通常来自于石墨烯表面的氧化物或含氧功能化基团。该峰通常出现在530-540 eV能量范围内。 3. Si 2p峰:如果石墨烯是在硅衬底上生长的,那么XPS光谱中可能会出现Si 2p峰。该峰...
由于C1s峰的结合能变化很小,难以从C1s峰的结合能来鉴别这些纳米碳材料。但图上可见,其携上峰的结构有很大的差别,因此也可以从C1s的携上伴峰的特征结构进行物种鉴别。 在石墨中,由于C原子以sp2杂化存在,并在平面方向形成共轭p键。这些共轭p键的存在可以在C1s峰的高能端产生携上伴峰。这个峰是石墨的共轭p键的指纹...
所以,我们经常使用的40eV或20eV的通能,就是这样的两个平衡点——20eV在分得开方面做得更好一点,对复杂的化学状态分辨(金属单质和高分子材料的C和O)更适合;而40eV的通能在看得见的方面做得更好一点,对于含量较低的元素(金属的氧化物)分析更适合。 当然,有时候要做更极限的分辨,如sp2和sp3杂化的C,可能要用...
首先,测试时要提供给老师尽可能详细的样品信息,有助于测试老师根据样品信息选择合理的测试条件和数据处理方法。碳材料中可能会有不同形式的C物种,例如sp2或sp3,对应物种的结合能位置也是不一样的。另外,XPS数据处理通常会采用C1s谱峰进行荷电校准,将烷烃碳谱峰位移到284.8eV,而不是采用sp2C校准到284.8eV。
碳材料中可能会有不同形式的C物种,例如sp2或sp3,对应物种的结合能位置也是不一样的。另外,XPS数据处理通常会采用C1s谱峰进行荷电校准,将烷烃碳谱峰位移到284.8eV,而不是采用sp2C校准到284.8eV。荷电校准是XPS数据处理中非常重要的一步,我们将在本期网络课程的数据处理课程中进行讲解,请参加相关课程老师,请问XPS测...
通过对C1s峰的拟合,可以得到碳纳米管中sp2和sp3杂化碳的比例,从而推断出碳纳米管的石墨化程度。此外,通过对N1s和O1s峰的拟合,可以得到氮和氧在碳纳米管中的含量和化学态。通过对这些信息的解读,可以对碳纳米管的性能和应用进行更加深入的理解。 六、碳纳米管的应用领域 由于其独特的结构和优异的性能,碳纳米管...
当然,有时候要做更极限的分辨,如sp2和sp3杂化的C,可能要用到更小的通能10eV甚至5eV了,那时候灵敏度下降的更厉害一些,需要使用更高的功率和更多次的扫描才能获得信噪比更好的谱线了。 本文内容非商业广告,仅供专业人士参考。相关产品 AXIS SUPRA+成像型多技术X射线光电子能谱仪 AXIS SUPRA+全自动、成像型多技...
尼龙/石墨复合材料 C1s的XPS图谱。在285.4处有SP3杂化的碳的峰，在284.5处有SP2杂化的碳的峰。问题...
碳材料中可能会有不同形式的C物种,例如sp2或sp3,对应物种的结合能位置也是不一样的。另外,XPS数据处理通常会采用C1s谱峰进行荷电校准,将烷烃碳谱峰位移到284.8eV,而不是采用sp2C校准到284.8eV。荷电校准是XPS数据处理中非常重要的一步,我们将在本期网络课程的数据处...