FISCHERSCOPE® X-RAY XDV-SDD®是一款应用广泛的能量色散型 X 射线荧光镀层测厚及材料分析仪。它特别适用于测量和分析超薄镀层以及经行痕量分析。其配备了高精度、可编程运行的 X/Y 轴工作台,是全自动测量样品的理想设备。 XDV-SDD设计为界面友好的台式测量仪器。它配备了高精度、可编程运行的X/Y轴工作台和...
FISCHERSCOPE® X-RAY XDV-SDD®是一款应用广泛的能量色散型 X 射线荧光镀层测厚及材料分析仪。它特别适用于测量和分析超薄镀层以及经行痕量分析。其配备了高精度、可编程运行的 X/Y 轴工作台,是全自动测量样品的理想设备。 XDV-SDD设计为界面友好的台式测量仪器。它配备了高精度、可编程运行的X/Y轴工作台和...
Fischerscope X-RAY XDV®-SDD菲希尔测厚仪,FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-SDD是FischerX射线荧光仪器。这台XRF光谱仪配备了高分辨率和强大的硅漂移探测器 (SDD) ,其有效面积为 50 mm² 。这使您可以精确地、无损地测量最薄的涂层--例如,引线框架上约 2nm 厚的金镀层。
XDV-SDD型仪器是FISCHER产品中性能强大的X射线荧光仪器之一。它配备了特别加大的硅漂移探测器(SDD)。50mm?的探测器窗口确保能快速而精确地测量甚至是小面积的测量点询价 Buy Now产品描述 XDV-SDD测量空间宽大,样品放置便捷,可以放置平整的样品,也可以放置形状复杂的大样品。连续测试或镀层厚度和元素分布的测量都可以...
FISCHERSCOPE® X-RAY XDV-SDD®是一款应用广泛的能量色散型 X 射线荧光镀层测厚及材料分析仪。它特别适用于测量和分析超薄镀层以及经行痕量分析。其配备了高精度、可编程运行的 X/Y 轴工作台,是全自动测量样品的理想设备。 XDV-SDD设计为界面友好的台式测量仪器。它配备了高精度、可编程运行的X/Y轴工作台和...
【技术特点】-- XDV-SDD高端全能型X摄像荧光光谱仪 特点 高端泛用的XRF分析仪,用于超薄镀层 (<0.05μm) 的自动测量和低于每密耳范围的精细材料分析,符合ISO 3497 和 ASTM B 568 标准 带钨靶的微聚焦射线管 4个可切换的准直器,用于优化测量条件
广东福驰科技有限公司_专注精密仪器服务商,主营:菲希尔 FISCHERSCOPE XDV-SDD,广州菲希尔 FISCHERSCOPE XDV-SDD等,可提供精密仪器解决方案!热线:18688665779张先生. 手机网站 联系人:张先生 手机:186-8866-5779 邮箱:jack.zhang@forth-tech.com 在线留言 立即咨询 ...
X-RAY XDV-SDD是一款应用广泛的能量色散型X射线荧光镀层侧厚及材料分析仪。它特别适合用于测量和分析超薄镀层及进行痕量分析。其配备了高精度、可编程的X/Y轴工作台,是全自动测量样品的理想设备。相关产品 X射线镀层测厚仪XDV-μ/XDV-u-PCB X射线镀层测厚仪XDLM-PCB200/210/220 X射线镀层测厚仪XDLM231/...
产品名称:Ficherscoper X-RAY XDV®-SDD 产品型号: 产品厂商:德国菲希尔fischer公司 产品价格:0 产品文档: 简单介绍: Ficherscoper X-RAY XDV®-SDD,Ficherscoper X-RAY XDV®-SDD型仪器是为了满足镀层厚度测量和材料分析领域的*高要求而专门设计的。在配备了*新的硅漂移探测器后,特别适合于无损测量数纳米...
菲希尔x射线荧光镀层厚度及ROSH检测仪/X-RAY射线光谱测厚仪/X射线分析仪FISCHERSCOPE ® X-RAY XDV ®-SDD是FISCHER产品中性能zui强大的X射线荧光仪器之一。菲希尔x射线荧光镀层厚度及ROSH检测仪XDV-SDD配备了特别加大的硅漂移探测器(SDD)。50mm²的探测器窗口确保能快速而精-确地测量甚是小面积的测量点。