菲希尔x射线荧光镀层厚度及ROSH检测仪/X-RAY射线光谱测厚仪/X射线分析仪FISCHERSCOPE ® X-RAY XDV ®-SDD是一款应用广泛的能量色散型X射线荧光镀层测厚及材料分析仪。它特别适用于测量和分析超薄镀层以及经行痕量分析。X射线荧光镀层测厚及材料分析仪,配有可编程运行的X/Y轴工作台和Z轴升降台,用于自动测量超...
FISCHERSCOPE®X-RAY XDV®系列不仅为用户提供了高效、精准的镀层厚度测量体验，更以其独特创新的全屏倍速功能，引领了度量行业的革新潮流。这一技术的突破，让科研与生产中的测量流程变得更为简洁高效，为我们的科技未来增添了更多可能。1.0倍速，新时代的测量标准 FISCHERSCOPE®X-RAY XDV®系列以其1.0倍速...
广东福驰科技有限公司_专注精密仪器服务商,主营:菲希尔 FISCHERSCOPE XDV-SDD,广州菲希尔 FISCHERSCOPE XDV-SDD等,可提供精密仪器解决方案!热线:18688665779张先生. 手机网站 联系人:张先生 手机:186-8866-5779 邮箱:jack.zhang@forth-tech.com 在线留言 立即咨询 ...
产品编号 : XDV-SDD XDV-SDD型仪器是FISCHER产品中性能强大的X射线荧光仪器之一。它配备了特别加大的硅漂移探测器(SDD)。50mm?的探测器窗口确保能快速而精确地测量甚至是小面积的测量点 询价Buy Now 产品描述 XDV-SDD测量空间宽大,样品放置便捷,可以放置平整的样品,也可以放置形状复杂的大样品。连续测试或镀层厚度...
FISCHERSCOPE X-RAY XDV-μ LEAD FRAME 使用FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ LEAD FRAME,您可以在非常平整的微电子元件上精确测试纳米范围内的薄层和多层结构。XDV-µ LEAD FRAME具有可切换的初级滤波器和专为低能量设计的多毛细管光学元件。最新的硅漂移探测器 (SDD) 在测量非常薄的涂层时发挥了它的优势。
在这种情况下,要采用符合ENIG和ENEPIG工艺的高端涂层。由于这些工艺中最薄的涂层厚度在40至100纳米之间,比例计数管的精度已不足以监测该工艺。这时FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ PCB就是正确的选择。高灵敏度的硅漂移检测器(SDD)和多毛细管光学器件的结合,可以对尺寸小于50微米的结构进行精确测量。
fischerscope x-ray xdv-sdd 热度: EKI-152X系列产品硬件评测 热度: FISCHERSCOPE®X-RAY系列产品 X射线荧光镀层测厚仪、材料分析仪 镀层厚度 材料分析 显微硬度 材料测试 1953 198131953年至今,菲希尔公司不断地在涂镀层测、材料分析、微硬度测量和材料测试领域发出创新型的测量技术。如今,菲希尔的测量技已在世界...
菲希尔fischerscope x-ray xan252 FISCHERSCOPE XDV-SDD X射线荧光测试仪,配有可编程XY平台和Z轴,可自动测量超薄镀层和分析痕量元素 仪器特点 高级型号仪器,具有常见的所有功能 射线激发量的灵活性,激发量可根据测量面积大小和光谱组成而改变 通过硅漂移探测器,在 > 10万cps(每秒计数率) 的信号量下也可以正常工作...
XDV-μ 型系列仪器是专为在很微小结构上进行高精度镀层厚度测量和材料分析而设计的。 市场价: 优惠价:0.00 服务保障:原装真品|发票保障|全国包邮|售后无忧 立即留言 联系人:朱盛 联系电话:021-58951071 手机号:15921165535 邮箱:814294500@qq.com 工作时间:8:00-17:45 ...
FISCHERSCOPE X-RAY XDV-SDD 2 Pages FISCHERSCOPE X-RAY XDAL 2 Pages PHASCOPE PMP10 DUPLEX 4 Pages Probe catalogue 12 Pages FISCHERSCOPE MMS PC2 16 Pages Gold, jewelry and precious metals analysis 2 Pages FERITSCOPE FMP30 - Ferrite content measurement ...