仪器介绍——X射线光电子能谱( X-ray photoelectron spectroscopy,XPS) 功能及应用介绍:X光电子能谱法是一种表面分析方法,提供的是样品表面的元素含量与形态,一般,其信息深度约为10nm以内。如果辅以离子刻蚀手段,再利用XPS作为分析方法,则可以实现对 样品的深度分析。可以分析除 H 和 He 以外的所有元素;可以直接测...
1)深度剖析:Ar离子枪(单氩离子或团簇氩离子)辅助刻蚀(刻蚀Ta2O5速率最大约为1nm/s),观察薄层材料纵向深度的结构元素信息; 2)紫外光电子能谱:得到非绝缘样品功函数,价带谱(分析价带顶及费米能级位置); 3)离子散射谱:可对材料表面1 nm深度内做成分分析,此方法对表面更加敏感; 4)背散射电子能量损失谱:确定样...
X射线光电子能谱;X-ray photoelectron spectroscopy(XPS) 产品描述 X射线光电子能谱技术(XPS)是电子材料与元器件显微分析中的一种**分析技术,而且是和俄歇电子能谱技术(AES)常常配合使用的分析技术。由于它可以比俄歇电子能谱技术更准确地测量原子的内层电子束缚能及其化学位移,所以它不但为化学研究提供分子结构和...
表面分析技术(SurfaceAnalysis)是对材料外层(theOuter-MostLayersofMaterials(<100))的研究的技术。包括:1电子谱学(ElectronSpectroscopies)X-射线光电子能谱XPS:X-rayPhotoelectronSpectroscopy俄歇能谱AES:AugerElectronSpectroscopy电子能量损失谱EELS:ElectronEnergyLossSpectroscopy 2离子谱学IonSpectroscopies ...
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X射线光电子能谱分析(X-ray photoelectron spectroscopy, XPS) 是一种分析材料表面化学的技术,可测量材料中存在的元素组成,经验公式,化学状态和电子状态。本文采用XPS测试分析了石墨纸和EGN粉体的电子能谱,其中仪器为美国赛默飞世尔科技有限公司ESCALAB 250Xi,能量扫描范围0~1400eV,能量分辨率0.45e,成像空间分辨率3μ...
X-rayphotoelectronspectroscopy X射线光电子能谱 X-Rayphotoelectronspectroscopy(XPS)isaquantitativespectroscopic techniquethatmeasurestheelementalcomposition,empiricalformula, chemicalstateandelectronicstateoftheelementsthatexistwithinamaterial. XPSspectraareobtainedbyirradiatingamaterialwithabeamofX-rayswhile simultaneouslymea...
X射线光电子能谱分析法是用X射线作入射束,在与样品表面原子相互作用后,将原子内壳层电子激发电离,通过对结合能的计算并研究其变化规律来了解被测样品所含元素及其化学状态。这个特征X射线激发电离的电子称为光电子。它不但用于化学元素分析,而且更广泛地应用于表面科学和材料科学。XPS的发展史 1887年,海因里希·...
X-Ray Photoelectron Spectroscopy 麻茂生:X射线光电子能谱麻茂生 热度: X-Ray Photoelectron Spectroscopy (XPS) An Introduction:X射线光电子能谱(XPS)介绍 热度: X射线能谱、X射线光电子能谱(XPS) 热度: 相关推荐 X-ray Photoelectron Spectroscopy (XPS) Center for Microanalysis of Materials ...