X射线光电子能谱(XPS)的基本概念: XPS, 全称为X-ray Photoelectron Spectroscopy(X射线光电子能谱), 早期也被称为ESCA (Electron Spectroscopy for Chemical Analysis),是一种使用电子谱仪测量X-射线光子辐照时样品表面所发射出的光电子和俄歇电子能量分布的方法。 XPS可用于定性分析以及半定量分析, 一般从XPS图谱的...
X射线光电子能谱法对于内壳层电子结合能化学位移的精确测量,能提供化学键和电荷分布方面的信息。 四、X射线光电子能谱谱图 XPS谱图的主线:光电子线——鉴定元素 伴峰或伴线:俄歇线、X射线卫星线、振激线和振离线、多重劈裂线、能量损失线、鬼线——帮...
X射线光电子能谱分析(X-ray photoelectron spectroscopy, XPS)是用X射线去辐射样品,使原子或分子的内层电子或价电子受激发射出来。被光子激发出来的电子称为光电子,可以测量光电子的能量,以光电子的动能为横坐标,相对强度(脉冲/s)为纵坐标可做出光电子能谱图,从而获得待测物组成。定义及原理 X射线光电子能谱...
X射线光电子能谱定量分析的依据是光电子谱线的强度(光电子峰的面积)反映了原于的含量或相对浓度。在实际分析中,采用与标准样品相比较的方法来对元素进行定量分析,其分析精度达1%~2%。 (3)固体表面分析 固体表面是指最外层的1~10个原子层,其厚度大概是(0.1~1)nm。人们早已认识到在固体表面存在有一个与团体内...
X 射线光电子能谱 (XPS) 也称为用于化学分析的电子能谱 (ESCA),是一种用于分析材料表面化学的技术。XPS 可以测试得到材料表面元素组成及化学态信息。 通过使用一束 X 射线照射固体表面并测量从材料表面 1-10 nm 发射的电子的动能来获得 XPS 谱图。通过对一定动能范围中出射的电子进行计数,记录光电子谱图。通过...
X射线光电子能谱技术(XPS)是电子材料与元器件显微分析中的一种先进分析技术,而且是和俄歇电子能谱技术(AES)常常配合使用的分析技术。由于它可以比俄歇电子能谱技术更准确地测量原子的内层电子束缚能及其化学位移,所以它不但为化学研究提供分子结构和原子价态方面的信
X—射线光电子能谱 (X-rayPhotoelectronSpectroscopy)实际测量时,利用标准样品的基准谱线来校正被测谱线的结合能,称为内标法:Eb(测)=Ek(标)+Eb(标)-Ek(测)(其中,Ek(标)和Eb(标)已知,Ek(测)可由谱仪测出)•化学位移:又称结合能位移,原子的内层电子结合 能随原子周围化学环境变化的现象称为化学...
X射线光电子能谱(XPS)已经是最广泛的表面分析技术之一,XPS仪器也变得更加简单实用,大量研究人员都能使用该技术。然而,该领域的专家数量并没有增加,XPS数据在文献中经常被曲解。 本文旨在为潜在用户或新手用户提供XPS的技术介绍,包括基本原理:(1)光电效应,(2)电子如何与物质相互作用并从表面逃逸,以及这如何决定该技术...
X射线光电子能谱法是2016年公布的化学名词,是指在超高真空条件下,用电子能谱仪测量X射线光子辐照样品表面时所发射的光电子及俄歇电子能量分布,以此測定周期表中除氢、氦以外所有元素及其化学态的一种非破坏性表面分析方法。。定义 超高真空条件下,用电子能谱仪测量X射线光子辐照样品表面时所发射的光电子及俄歇...