(1)XPS, 全称为X-ray Photoelectron Spectroscopy(X射线光电子能谱),是一种收集和利用X-射线光子辐照样品表面时所激发出的光电子和俄歇电子能量分布的方法。 XPS可用于定性分析以及半定量分析, 一般从XPS图谱的峰位和峰形获得样品表面元素成分、化学态和分子结构等信息,从峰强可获得样品表面元素含量或浓度(不常用)...
X光电子能谱分析的基本原理:一定能量的X光照射到样品表面,和待测物质发生作用,可以使待测物质原子中的电子脱离原子成为自由电子。该过程可用下式表示: hn=Ek+Eb+Er (1) 其中:hn:X光子的能量;Ek:光电子的能量;Eb:电子的结合能;Er:原子的反冲能量。其中...
X射线光电子能谱(XPS)的基本原理: XPS技术起源于1887年德国物理学家赫兹发现的光电效应。即一定能量的X射线(常用的射线源是Mg Kα-1253. 6eV 或Al Kα-1486. 6eV) 照射到样品表面,和待测样品的表层原子发生作用,当光电子能量大于核外电子的结合能时,可以激发待测物质原子中的电子脱离原子成为自由电子。 光...
X-光电子能谱仪是一种用于物理学、化学、生物学、材料科学领域的分析仪器,于2011年12月28日启用。技术指标 1、真空度:≤4X10-6Pa;2、能量范围:0-1200电子伏特;3、X-ray类型:锥形双阳极Mg或Al的Kа射线;4、最佳能量分辨率:<0.8电子伏特;5、灵敏度:700,000CPS;6、分析器:低通或高通(杜邦型)...
一、X光电子能谱分析的基本原理 X光电子能谱分析的基本原理:一定能量的X光照射到样品表面,和待测物质发生作用,可以使待测物质原子中的电子脱离原子成为自由电子。该过程可用下式表示: hn=Ek+Eb+Er (1) 其中:hn:X光子的能量;Ek:光电子的能量;Eb:电子的结合能;Er:原子的反冲能量。其中Er很小,可以忽略。
可通过表面改性来改变或改善这些特性;可通过表面分析来了解表面化学信息、研究表面工艺的效果。从不粘炊具涂层到薄膜电子和生物活性表面,X 射线光电子能谱是进行表面表征的标准工具之一。 X 射线光电子能谱 (XPS) 也称为用于化学分析的电子能谱 (ESCA),是一种用于分析材料表面化学的技术。XPS 可以测试得到材料表面...
X射线光电子能谱技术(X-ray photoelectron spectroscopy,XPS)是一种重要的材料表面成分等信息的分析技术。XPS技术通过采用一定能量的X射线照射样品表面,和待测样品的表面原子发生作用,测量样品表层中原子的内层电子或价电子束缚能及其化学位移,从而获得元素种类、原子的结合状态以及电荷分布状态等信息。(杨文超,X射线光电...
X射线光电子能谱(XPS)已经是最广泛的表面分析技术之一,XPS仪器也变得更加简单实用,大量研究人员都能使用该技术。然而,该领域的专家数量并没有增加,XPS数据在文献中经常被曲解。 本文旨在为潜在用户或新手用户提供XPS的技术介绍,包括基本原理:(1)光电效应,(2)电子如何与物质相互作用并从表面逃逸,以及这如何决定该技术...
X射线光电子能谱技术(XPS)是电子材料 与元器件显微分析中的一种先进分析技术,而且是和俄歇电子能谱技术(AES)常常配合使用的分析技术。由于它可以比俄歇电子能谱技术更准确地测量原子的内层电子束缚能及其化学位移,所以它不但为化学研究提供分子结构和原子价态方面的信息,还能为电子材料研究提供各种化合物的元素组成和含...