X射线光电子能谱学（英文：X-ray photoelectron spectroscopy，简称XPS）XPS主要应用是测定电子的结合能来鉴定样品表面的化学性质及组成的分析，其特点在光电子来自表面10nm以内，仅带出表面的化学信息，具有分析区域小、分析深度浅和不破坏样品的特点，广泛应用于金属、无机材料、催化剂、聚合物、涂层材料矿石等各种材料...
(1)XPS, 全称为X-ray Photoelectron Spectroscopy(X射线光电子能谱),是一种收集和利用X-射线光子辐照样品表面时所激发出的光电子和俄歇电子能量分布的方法。 XPS可用于定性分析以及半定量分析, 一般从XPS图谱的峰位和峰形获得样品表面元素成分、化学态和分子结构等信息,从峰强可获得样品表面元素含量或浓度(不常用)...
X射线光电子能谱分析(X-ray photoelectron spectroscopy, XPS)是用X射线去辐射样品，使原子或分子的内层电子或价电子受激发射出来。被光子激发出来的电子称为光电子，可以测量光电子的能量，以光电子的动能为横坐标，相对强度(脉冲/s)为纵坐标可做出光电子能谱图，从而获得待测物组成。定义及原理 X射线光电子能谱...
XPS, 全称为X-ray Photoelectron Spectroscopy(X射线光电子能谱), 早期也被称为ESCA (Electron Spectroscopy for Chemical Analysis),是一种使用电子谱仪测量X-射线光子辐照时样品表面所发射出的光电子和俄歇电子能量分布的方法。 XPS可用于定性分析以及半定量分析, 一般从XPS图谱的峰位和峰形获得样品表面元素成分、化...
XPS, 全称为X-ray Photoelectron Spectroscopy(X射线光电子能谱)，是一种使用电子谱仪测量X-射线光子辐照时样品表面所发射出的光电子和俄歇电子能量分布的方法。通过收集在入射X光作用下，从材料表面激发的电子能量、角度、强度等信息对材料表面进行定性、定量和结构鉴定的表面分析方法。一般以Al、Mg作为X射线的激发源...
The Basics of XPS Surface Analysis, Part 1 This presentation gives an introduction to X-ray photoelectron spectroscopy, a key technique for understanding materials. The first part of this two part series describes the fundamentals of the technique, the instrumentation, and is illustrated with The Ba...
X-ray photoelectron spectroscopy (XPS), also known as electron spectroscopy for chemical analysis (ESCA), is a technique for analyzing a material’s surface chemistry. XPS can measure elemental composition as well as the chemical and electronic state of the atoms within a material. ...
XPS surface analysis references and resources to learn about X-ray photoelectron spectroscopy and its applications in materials science and surface engineering.
X-ray photoelectron spectroscopy enables XPS surface analysis, providing elemental composition and the chemical/electronic state of the top 10 nm of a material.
X射线光电子能谱法(X-ray photoelectron spectroscopy,XPS)属于侵入式分析技术,用来确定样品中化学元素的氧化状态。XPS检测通常使用粉末样品或粉末压片,也可做断面成像(分辨率为0~10 μm )。XPS 对高灵敏元素的灵敏度为0.1%,对不灵敏元素的灵敏度约为1%。结合离子溅射光束,XPS可通过深度分布信息将元素氧化状态表现为...