扩展X射线吸收精细结构谱仪的探测系统 EXAFS,谱仪,探测系统摘要:doi:10.1007/BF02677081田杰,赵淑君,吴岳林,王燕霞VIP核技术
扩展X射线吸收精细结构多丝正比室本文详细描述了一个扩展X射线吸收精细结构(EXAFS)谱仪探测系统.用能量约为10keV的X射线测量了该探测系统的坪特性,吸收曲线和线性.并在此EXAFS谱仪上测量了镍样品K吸收边附近的振荡现象,它比前探测器用正比计数管,后探测器用NaI(TI)闪烁计数器测量的结果更精确.doi:CNKI:SUN:HJSU...