X射线吸收精细结构谱(X-rayAbsorptionFineStructure,XAFS)X射线吸收近边结构(X-rayAbsorptionNearEdgeStructure，XANES):是由低 能光电子在配位原子做多次散射后再回到吸收原子与出射波发生干涉形成的，其特点是强振荡。扩展X射线吸收精细结构(ExtendedX-rayAbsorptionFineStructure,EXAFS):是电离光电子被吸收原子周围的配位...
然而,XAFS技术通常依赖于同步辐射X射线光源,极大地限制了XAFS技术在各领域的广泛应用。针对于此,美国easyXAFS公司研发的台式X射线吸收精细结构谱仪/发射谱仪-easyXAFS/XES,无需使用同步辐射光源,在常规的实验室环境中即可实现X射线吸收精细结构谱和X射线发射谱的测量和分析,以超高的灵敏度和光源质量,实现对元素的测定...
X射线吸收精细结构谱仪 (XAFS)-丹东通达科技有限公司 -X射线吸收精细结构谱仪 (X-ray absorption fine structure,XAFS),是一种研究材料局域原子或电子结构的有力工具,广泛应用于催化、能源、纳米等热门领域。
7、能处存在很强的边前结构。谱在低能处存在很强的边前结构。X射线吸收精细结构谱射线吸收精细结构谱(X-ray Absorption Fine Structure, XAFS)X射线吸收近边结构射线吸收近边结构X射线吸收精细结构谱射线吸收精细结构谱(X-ray Absorption Fine Structure, XAFS)扩展扩展X射线吸收精细结构射线吸收精细结构将振荡信号通...
使用鼠标滚轮可以放大缩小图谱,也可以左右拖动。调整横坐标到正确的区域之后,可以更好地显示的吸收谱。 SOC-TDDFT方法(用于计算L边吸收) 以TiCl_4为例 优化TiCl_4基态结构 基本设置,参考:如何优化分子的几何结构,注意本例Relativity设置为Scalar,xc Functional设置为GGA-D>BP-D3(BJ),Core type:none ...
搭建了基于非扫描式 von Hamos 几何结构的台式 X 射线吸收精细结构谱仪,该谱仪采用高分辨、高反射率的 HAPG 柱面弯晶作为色散元件,能够提供 10-100 倍于传统分析晶体的光通量增益,一次摄谱能量带宽可达 1000 eV,加速了非晶材料结构及其演化过程探索的步伐,同时也开启了非扫描台式 X 射线吸收精细结构谱仪商用化的...
X射线吸收精细结构谱(X-rayAbsorptionFineStructure,XAFS)X射线吸收近边结构(X-rayAbsorptionNearEdgeStructure，XANES):是由低能光电子在配位原子做多次散射后再回到吸收原子与出射波发生干涉形成的，其特点是强振荡。扩展X射线吸收精细结构(ExtendedX-rayAbsorptionFineStructure,EXAFS):是电离光电子被吸收原子周围的配位...
对X射线吸收精细结构谱仪结果进行验证是确保实验数据准确性和可靠性的重要步骤。以下是一些建议的验证步骤: 1. 重复性测试:重复性测试是检验X射线吸收精细结构谱仪结果可靠性的基本方法。通过在同一实验条件下多次测量同一样品,可以评估仪器的稳定性和测量结果的一致性。如果连续几次测量得到的结果差异很小,说明仪器运行...
振动结构: XAFS中的振动结构反映了吸收边的原子周围的振动信息,包括配位数和键长等。 2.2 远离吸收边的振动: 在吸收边之后的区域,XAFS提供了关于材料结构的更详细的信息,称为远离吸收边的振动结构。 三、XAFS的实验技术: 1. 吸收谱的采集: 1.1 吸收边扫描: 通过扫描X射线能量来测量吸收边,获得吸收谱。 1.2 快...
X射线吸收精细结构谱(X-ray Absorption Fine Structure,XAFS)是一种先进的实验技术,它利用X射线与物质相互作用时产生的精细结构信息,来研究物质的微观结构特征。XAFS技术在物理、化学、材料科学以及生物学等领域具有广泛的应用,对于理解物质的内部结构和性质具有重要意义。