静态SIMS中入射离子通量较低,从而降低了分析深度,使该技术更具表面特异性。它还能减少碎片,有利于分析分子种类。 由于不同的仪器可以采用不同的操作模式,下面将围绕所使用的仪器类型展开。 4飞行时间二次离子质谱仪ToF-SIMS 现代ToF-SIMS仪器一般使用液态金属离子...
飞行时间二次离子质谱（TOF-SIMS），也叫静态二次离子质谱，是飞行时间和二次离子质谱结合的一种新的表面分析技术。TOF-SIMS具有高分辨、高灵敏度、精确质量测定等性能，是目前高技术领域广泛使用的分析技术。此外，TOF-SIMS是非常灵敏的表面分析手段。其凭借质谱分析、二维成像分析、深度元素分析等功能，广泛应用于医学...
TOF-SIMS（Time of Flight Secondary Ion Mass Spectrometry）是通过用一次离子激发样品表面，打出极其微量的二次离子，根据二次离子因不同的质量而飞行到探测器的时间不同来测定离子质量的极高分辨率的测量技术。TOF-SIMS具有极高分辨率，可以提供表面，薄膜，界面以至于三维样品的元素、分子等结构信息，其特点在二次...
TOF-SIMS,即飞行时间二次离子质谱,是一种用于分析材料表面成分的高灵敏度技术。它通过激发样品表面的原子或分子,使其释放出二次离子,然后对这些二次离子进行质谱分析,从而获得样品的化学成分与结构信息。TOF(Time of Flight)该术语源于对离子飞行时间的测量,分离并分析不同质量的离子。 TOF-SIMS的工作原理 TOF-SIMS...
TOF-SIMS概述飞行时间二次离子质谱仪（Time of Flight Secondary Ion Mass Spectrometry ，简称TOF-SIMS）是通过用一次离子激发样品表面，打出极其微量的二次离子，根据二次离子因不同的质量而飞行到探测器的时间不同来测定离子质量的极高分辨率的测量技术。TOF-SIMS作为最前沿实用的表面分析技术之一，可以通过离子束对...
现代ToF-SIMS仪器一般使用液态金属离子枪(LMIG)作为离子(PI)源。与电子撞击源、等离子源或表面电离源相比,液态金属离子枪可提供更高的“亮度”(即电流密度,约1010Am-2sr-1)和更窄的离子束。离子束亮度和直径都是实现亚微米空间分辨率成像所需的聚焦质量的关键。
飞行时间二次离子质谱技术(Time of Flight Secondary Ion Mass Spectrometry,TOF-SIMS)是一种非常灵敏的表面分析技术,通过用一次离子激发样品表面,打出极其微量的二次离子,根据二次离子因不同的质量而飞行到探测器的时间不同来测定离子质量,具有极高分辨率的测量技术。可以广泛应用于物理,化学,微电子,生物,制药,空间...
型号: FIB-SEM-TOF-SIMS 产地:欧洲 捷克 供应商报价:￥8000000 上海爱仪通网络科技有限公司更新时间:2025-04-15 08:51:39 销售范围售全国 入驻年限第4年 营业执照已审核 同类产品SEM 扫描电子显微镜(36件) 立即扫码咨询 联系方式:18701866315 联系我们时请说明在仪器网(www.yiqi.com)上看到的!
由于TOF-SIMS能鉴定物质结构,特别对有机分子的结构鉴定,因此,通过TOF-SIMS成像的方式分析指纹,不仅能获得比传统方式更精细的形貌信息,还能获得指纹上物质化学成分的分布信息。例如利用TOF-SIMS对长期流通过的人民币表面上的指纹进行化学成像分析,利用TOF-SIMS的技术优势,显现传统方法无法显现的潜在指纹;利用其空间分辨率高...
飞行时间二次离子质谱法(ToF SIMS)是一种用于研究固体表面和薄膜的三维化学组成的表面分析技术。 聚焦的一次离子束轰击目标表面,产生中性原子/分子、二次离子和电子。二次离子通过飞行时间质谱仪进行收集和分析。质谱仪通过精确测量离子到达探测器所需的时间(即“飞行时间”)来测量离子的质荷比(m/z)。