. 观察条件: 5kV/10kV/15kV(均四档可调)、EDX 放大倍率: 10×~100000× 观察模式: 导体(TM4000Plus)、标准模式,消除电荷模式 探测器: 4分割背散射探测器、低真空二次电子探测器 可容纳样品直径: ≤80mm,厚≤50mm 灵活性: 快速切换 支持加速电压: 20 kV 排气系统: 涡轮分子泵:67 L/s 1台 ...
观察条件:5kV/10kV/15kV(均四档可调)、EDX2. 放大倍率:10×~100000×3. 观察模式:导体(TM4000Plus)、标准模式,消除电荷模式4. 探测器:4分割背散射探测器、低真空二次电子探测器 (TM4000Plus)应用领域:生命科学材料科学化学电子制造食品工业 价格说明 价格:商品在爱采购的展示标价,具体的成交价格可能因商品参加...
1. 观察条件:5kV/10kV/15kV(均四档可调)、EDX 2. 放大倍率:10×~100000× 3. 观察模式:导体(TM4000Plus)、标准模式,消除电荷模式 4. 探测器:4分割背散射探测器、低真空二次电子探测器(TM4000Plus) 应用领域: 生命科学、材料科学、化学、电子制造、食品工业...
1. 观察条件:5kV/10kV/15kV(均四档可调)、EDX 2. 放大倍率:10×~100000× 3. 观察模式:导体(TM4000Plus)、标准模式,消除电荷模式 4. 探测器:4分割背散射探测器、低真空二次电子探测器 (TM4000Plus) 服务范围: 测试项目 Test Item 服务范围 Scope 微观形貌观察 根据客户要求对样品区域、形貌进行观察与分析...
非常简单的 EDX 分析 面分析 谱峰分析 线分析 EM 样品台(选配) 可轻松观察 STEM 图像 与全新开发的 STEM 样品台和高灵敏度低真空二次电子检测器(UVD)配合使用,可轻松观察小倍率 STEM 图像。 可轻松观察薄膜样品和生物样品。 *UVD为TM4000PlusIII上的配件。
非常简单的 EDX 分析 面分析 谱峰分析 线分析 EM 样品台(选配) 可轻松观察 STEM 图像 与全新开发的 STEM 样品台和高灵敏度低真空二次电子检测器(UVD)配合使用,可轻松观察小倍率 STEM 图像。 可轻松观察薄膜样品和生物样品。 * UVD为TM4000PlusIII上的配件。 样品:研磨剂 加速电压:20 kV 观察信号...
1. 观察条件:5kV/10kV/15kV(均四档可调)、EDX 2. 放大倍率:10×~100000× 3. 观察模式:导体(TM4000Plus)、标准模式,消除电荷模式 4. 探测器:4分割背散射探测器、低真空二次电子探测器 (TM4000Plus) 应用领域: 生命科学 材料科学 化学 电子制造 ...
非常简单的 EDX 分析 面分析谱峰分析 线分析 EM 样品台(选配) 可轻松观察 STEM 图像 与全新开发的 STEM 样品台和高灵敏度低真空二次电子检测器(UVD)配合使用,可轻松观察小倍率 STEM 图像。 可轻松观察薄膜样品和生物样品。 * UVD为 TM4000Plus II上的配件。
1. 观察条件:5kV/10kV/15kV/20kV(均四档可调)、EDX 2. 放大倍率:10×~100000× 3. 观察模式:导体、标准模式,消除电荷模式 4. 探测器:4分割背散射探测器、低真空二次电子探测器(TM4000Plus) 应用领域:生命科学 材料科学 化学 电子制造 食品工业
加速电压 EDX、15KV、10KV、5KV 电位移范围 ±50 μm (工作距离为4.5mm时) 检测器 标配高灵敏度4分割半导体背散射电子检测器 图像模式 可在低真空下观察成分像、形貌像 图像数据保存 PC附属硬盘 图像格式 BMP、TIFF、JPEG 数据显示 微标尺、微米值、日期时间、图像号码及注释 安全装置 带过流保护功...