先在TEM模式下找到特定位置,之后将拍摄模式切换至STEM模式,调节电子束、光阑、焦距、像散等参数,并调节至合适的亮度进行拍摄。6️⃣ 能谱分析 先在TEM模式下找到特定位置,之后将拍摄模式切换至STEM模式,插入能谱探测器并在能谱软件上设置扫描的元素及方式等参数后进行能谱分析。通过这些步骤,你可以轻松掌握TEM测...
1.做TEM测试时样品的厚度最厚是多少 ? TEM的样品厚度最好小于100nm,太厚了电子束不易透过,分析效果不好。 2.请问样品的的穿晶断裂和沿晶断裂在SEM图片上有各有什么明显的特征? 在SEM图片中,沿晶断裂可以清楚地看到裂纹是沿着晶界展开,且晶粒晶界明显;穿晶断裂则是裂纹在晶粒中展开,晶粒晶界都较模糊。 3.做...
打开一张“.dm3”格式的高倍率TEM照片(图1),进行放大操作并选择好待测区域。 图1 dm3文件的导入 通常情况下,导入的高倍率TEM图片能看到清晰的晶格条纹。然而,也有一些图片由于信噪比等多方面拍摄原因,导致晶格条纹看起来略显模糊。对于此类图片,我们首先需要用到放大功能(图2红框右边),随后选用手性工具(图2红...
由于TEM的电子束需穿透样品，要用TEM专用镂空铜网来承载样品，对于细小的粉末或颗粒，铜网上一般预先粘附一层连续而且很薄（约20-~30nm)的有机支持膜（方华膜)，为增强支持膜的牢固性和导电性，在方华膜上再喷镀一层很薄的碳颗粒（碳支持膜），小尺寸粉末样品置于碳支持膜表面且不遗漏铜网孔，较早自制火棉胶/碳...
二次电子信号主要用于分析样品的表面形貌。二次电子只能从样品表面层5-10nm深度范围内被入射电子束激发出来,大于10nm时,虽然入射电子也能是核外电子脱离原子而变成自由电子,但因其能量较低以及平均自由程较短,不能逸出样品表面,最终只能被样品吸收。 被入射电子束激发出的二次电子数量和原子序数没有明显的关系,但是二...
tem测试方法是通过模拟真实用户的行为和环境来对软件进行测试。它主要包括以下几个方面的内容: 1.1 真实用户行为模拟 tem测试方法通过记录真实用户的操作行为,包括点击、输入、滑动等,然后将这些行为转化为测试用例。在测试过程中,模拟用户的操作行为,以验证软件的功能和性能是否符合预期。 1.2 真实用户环境模拟 tem测试...
一、STEM和TEM像的比较 相关的光学原理可以证明：在理想的光学仪器系统和成像条件下，相同的光学系统中STEM像的分辨率和衬度与CTEM像的相同。即在传统透射电镜中得到的质厚衬度、衍射衬度和相位衬度全部可以在STEM像中重现。应用以上三种衬度原理可以在一定条件下说明STEM像的衬度。但是实际上STEM中的入射束孔径角2...
透射电子显微镜(Transmission electron microscope, TEM)是使用最为广泛的电子显微镜之一,和扫描电子显微技术共同组成了电子显微学的“两大支柱”。TEM的测试原理是利用透过样品的电子进行成像和结构分析,由于电子的穿透能力较弱,样品的厚度、导电性...
TEM只测试厚度为纳米级别的样品，未经制样的块状、膜状样品不能直接上机测试；TEM不能测试含液体的样品，所有液体样品均需挥干溶剂后测试，或者可以选择冷冻TEM拍摄；低分辨TEM最低可以做到20nm的标尺，如果需要更小的分辨率，可以选择测试高分辨TEM。微谱可为您提供低分辨/高分辨形貌观察、EDS点扫/mapping/线扫元素...
金鉴李工：透射电镜TEM测试，载网膜如何选择？载网膜是透射电镜最常用的耗材之一，主要作用是在电镜观察时负载小尺度的样品。目前最常用的是铜材质的载网，根据样品观察需求在载网上负载高分子膜及碳膜制成载网膜，主要包括碳支持膜、微栅、超薄碳膜和纯碳膜等。载网 透射电镜用载网均为直径为3mm、厚度为10-30μ...