先在TEM模式下找到特定位置,之后将拍摄模式切换至STEM模式,调节电子束、光阑、焦距、像散等参数,并调节至合适的亮度进行拍摄。6️⃣ 能谱分析 先在TEM模式下找到特定位置,之后将拍摄模式切换至STEM模式,插入能谱探测器并在能谱软件上设置扫描的元素及方式等参数后进行能谱分析。通过这些步骤,你可以轻松掌握TEM测...
样品应有足够的强度和稳定性,在电子线照射下不至于损坏或发生变化; TEM样品常放置在直径为3mm的200目载网上,或其他特殊制备直接成型的直径在3mm载网; 样品不能含有磁性,磁性粉末被吸引到极靴上,造成电镜的永久性污染,严重会导致电镜巨大损坏!...
一、STEM和TEM像的比较 相关的光学原理可以证明：在理想的光学仪器系统和成像条件下，相同的光学系统中STEM像的分辨率和衬度与CTEM像的相同。即在传统透射电镜中得到的质厚衬度、衍射衬度和相位衬度全部可以在STEM像中重现。应用以上三种衬度原理可以在一定条件下说明STEM像的衬度。但是实际上STEM中的入射束孔径角2...
由于TEM的电子束需穿透样品,要用TEM专用镂空铜网来承载样品,对于细小的粉末或颗粒,铜网上一般预先粘附一层连续而且很薄(约20-~30nm)的有机支持膜(方华膜),为增强支持膜的牢固性和导电性,在方华膜上再喷镀一层很薄的碳颗粒(碳支持膜),小尺寸粉末样品置于碳支持膜表面且不遗漏铜网孔,较早自制火棉胶/碳复合支持...
二次电子信号主要用于分析样品的表面形貌。二次电子只能从样品表面层5-10nm深度范围内被入射电子束激发出来,大于10nm时,虽然入射电子也能是核外电子脱离原子而变成自由电子,但因其能量较低以及平均自由程较短,不能逸出样品表面,最终只能被样品吸收。 被入射电子束激发出的二次电子数量和原子序数没有明显的关系,但是二...
所以当在TEM中形成STEM像时，要以衍射模式操作TEM并在观察室内屏幕的上方或下方插入一个探测器（下方时要抬屏）。静态衍射花样落在探测器上，进而将信号输出给显示器。在DSTEM中，可能没有任何成像系统（或者说在样品后方的）透镜，这种情况下，探测器直接放置在物镜下方。2、暗场STEM像 这个过程与TEM中的暗场像...
打开一张“.dm3”格式的高倍率TEM照片(图1),进行放大操作并选择好待测区域。 图1 dm3文件的导入 通常情况下,导入的高倍率TEM图片能看到清晰的晶格条纹。然而,也有一些图片由于信噪比等多方面拍摄原因,导致晶格条纹看起来略显模糊。对于此类图片,我们首先需要用到放大功能(图2红框右边),随后选用手性工具(图2红...
tem测试方法是通过模拟真实用户的行为和环境来对软件进行测试。它主要包括以下几个方面的内容: 1.1 真实用户行为模拟 tem测试方法通过记录真实用户的操作行为,包括点击、输入、滑动等,然后将这些行为转化为测试用例。在测试过程中,模拟用户的操作行为,以验证软件的功能和性能是否符合预期。 1.2 真实用户环境模拟 tem测试...
图 3. (a) 不同相位[111]区轴的模拟电子衍射图。(b-d) 不同FeGa合金的[111] Zone的 SAED 图样、HRTEM 图像和相应的 FFT 图样。通过图3，我们可以知道，将实际的SAED、FFT与模拟电子衍射图对比，可得基体中含有m-DO3纳米析出相。所以当我们做完TEM测试时，只需要将所得的选区电子衍射(SAED)或FFT与模拟...
TEM常用于研究纳米材料的结晶情况,观察纳米粒子的形貌、分散情况及评估和测量纳米粒子的粒径,TEM主要优点是分辨率高,可用来观察微生物和生物大分子的全貌以及组织和细胞内部的超微结构。下面铄思百检测将介绍下关于tem测试主要测什么,顺便再介绍一下tem测试需要多少样品方面知识。