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透射电子显微镜（Transmission Electron Microscope, 简称TEM），是一种把经加速和聚集的电子束透射到非常薄的样品上，电子与样品中的原子碰撞而改变方向，从而产生立体角散射。散射角与试样密度和厚度有关，故可形成明暗不等的图像，图像经放大和聚焦后显示于成像器件（例如荧光屏、胶片和感光耦合组件等）的显微镜。背景...
TEM的像差 像差是限制电子显微镜分辨率的主要因素，包括球差、色差和像散等。球差由电子在磁透镜中心区与边缘区折射能力的差异造成，色差源于电子能量的分散，像散由磁场的非轴对称性引起。衍射差则是由于光阑孔处的夫琅禾费衍射效应造成。TEM的衬度类型 TEM的衬度由电子与物质相互作用产生的散射引起，包括质厚衬...
透射电子显微镜（TEM）是一种使用电子束作为光源，通过电磁透镜聚焦和放大样品的显微镜。02 TEM的分辨率比光学显微镜高，能够观察更细微的结构和细节。TEM发展历程 1931年 Ruska改进了电子显微镜，使其分辨率提高到100nm。1940年代 透射电子显微镜开始广泛应用于生物学和医学领域。1925年 德国物理学家MaxKnoll和ErnstRuska...
TEM系统组件 TEM系统由以下几部分组成: 电子枪:发射电子的。它包括阴极、栅极、阳极。阴极管出射电子经过栅极小孔产生射线束并在阳极电压下加速后入射到聚光镜中,起着加速电子束、加压电子束作用。 聚光镜:将电子束聚集得到平行光源。 样品杆:装载需观察的样品。 物镜:聚焦成像,一次放大。 中间镜:二次放大,并控制...
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(Transmission Electron Microscope, 简称TEM),是一种把经加速和聚集的电子束透射到非常薄的样品上,电子与样品中的原子碰撞而改变方向,从而产生立体角散射。散射角的大小与样品的密度、厚度等相关,因此可以形成明暗不同的影像,影像在放大、聚焦后在成像器件(如荧光屏,胶片以及感光耦合组件)上显示出来的显微镜。
半导体工程师 2024年07月27日 08:51 北京透射电子显微镜(Transmission electron microscopy,TEM)是一种高分辨率的显微镜技术,用于观察材料的微观结构。TEM通过电子束穿过样品,与样品中的原子相互作用,形成图像,可以分辨非常小的结构细节(高分辨)。不仅能用于研究材料的晶体结构、相变、缺陷等,还可以观察细胞、细胞器和生...