TEM的像差 像差是限制电子显微镜分辨率的主要因素，包括球差、色差和像散等。球差由电子在磁透镜中心区与边缘区折射能力的差异造成，色差源于电子能量的分散，像散由磁场的非轴对称性引起。衍射差则是由于光阑孔处的夫琅禾费衍射效应造成。TEM的衬度类型 TEM的衬度由电子与物质相互作用产生的散射引起，包括质厚衬...
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透射电子显微镜（Transmission Electron Microscope, 简称TEM），是一种把经加速和聚集的电子束透射到非常薄的样品上，电子与样品中的原子碰撞而改变方向，从而产生立体角散射。散射角与试样密度和厚度有关，故可形成明暗不等的图像，图像经放大和聚焦后显示于成像器件（例如荧光屏、胶片和感光耦合组件等）的显微镜。背景...
赛默飞积极响应大规模设备更新,我们的TEM透射电子显微镜结合了TEM透射电镜和SEM扫描电镜的优势可对大样品面积进行高分辨率原子级分析非常适用于材料研究。我们的服务团队专业、高效为您提供全方位的技术支持。欢迎联系我们了解更多信息。
(Transmission Electron Microscope, 简称TEM),是一种把经加速和聚集的电子束透射到非常薄的样品上,电子与样品中的原子碰撞而改变方向,从而产生立体角散射。散射角的大小与样品的密度、厚度等相关,因此可以形成明暗不同的影像,影像在放大、聚焦后在成像器件(如荧光屏,胶片以及感光耦合组件)上显示出来的显微镜。
TEM和SEM的区别:透射电子显微镜(TEM)和扫描电子显微镜(SEM)是电子显微镜的两种主要类型,它们在工作原理和应用领域上存在一些区别。 当一束高能的入射电子轰击物质表面时,被激发的区域将产生二次电子、背散射电子、俄歇电子、特征X射线、透射电子,以及在可见、紫外、红外光区域产生的电磁辐射。扫描电镜主要收集二次电子和...
透射电子显微镜（TEM）是一种使用电子束作为光源，通过电磁透镜聚焦和放大样品的显微镜。02 TEM的分辨率比光学显微镜高，能够观察更细微的结构和细节。TEM发展历程 1931年 Ruska改进了电子显微镜，使其分辨率提高到100nm。1940年代 透射电子显微镜开始广泛应用于生物学和医学领域。1925年 德国物理学家MaxKnoll和ErnstRuska...
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(TEM)的工作原理与投射式光学显微镜很相似,图1画出了两者的简化光路图,尽管光源、透镜各不相同,但照放大及成像方式却完全一致。 图1 投射光镜与透射电镜的光路对照图 在实际情况下无论是光镜还是电镜,其内部结构都要比图示复杂得多,图中的聚光镜(condonser lens)、物镜(object lens)和投影镜(projection lens)...