TEM的mapping就是扫描每个点,然后把每个点得到的能谱图按特定的元素峰画图,得到位置和这个元素峰的强度的关系,在面扫模式下,EDS通过在样品表面选择一个面进行扫描,获取整个区域的元素分布信息。面扫模式广泛用于材料的成分分析、相区分析和颗粒大小分布等应用。 图中每一种元素都由不同的颜色代表,它在所分析区域内...
TEM的mapping 和SEM 的mapping模式是一样的,都是将能谱EDS组合在一起使用的。 TEM的放大倍数要比SEM的高,当然两者的成像原理也是不同的,SEM是电子束激发出表面次级电子,而TEM则是穿透试样,所以TEM样品要求很薄,只有几十nm, TEM一般能放大几百万倍,而SEM只有几万倍。SEM通常看材料的表面形貌、缺口断面,TEM则可...
3.一般制样选普通碳膜铜网/微栅铜网即可,如果颗粒直径小于10 nm用超薄碳膜制样;样品含Cu,需要拍EDS能谱和mapping可选镍网或者钼网;样品含C,且颗粒大于100nm,需要拍摄EDS能谱和mapping可选微栅网。 4. 磁性样品请务必提前确定机时,要求颗粒大小不超过200 nm,且不接受自己制样,请...
二、汇聚光照射模式(STEM) 汇聚光(STEM)方式成像与平行光电子束不同,它是用聚集电子束对试样进行逐点扫描来实现的,如果需要直接体现试样原子信息或者EDS-Line Scan,EDS-Mapping和STEM-EELS浓度较低的成分分析时,可以选择STEM方式进行成像。 STEM模式下最常用的是HAADF-STEM像,像的强度正比于原子序数Z的平方,Z越大...
2.样品是有机物(不建议做Mapping,做高分辨也不是很合适,容易被电子束打坏),扫久了会积碳,会拍不了。3.样品是磁性样品,能谱分1代能谱和2代能谱,因为磁性样品对仪器有损伤,一般愿意给拍磁性样品的仪器会相对老一些,配的能谱基本都是1代能谱,马赛克点比较大,较糊。4....
TEM测试(透射电子显微镜)可测项目:形貌、能谱点扫、能谱线扫、能谱面扫(mapping)、stem(haddf)、衍射 备注:非磁、弱磁、强磁样品均可拍摄
带有机物的样品,无法拍摄Mapping;③ 磁性:磁性颗粒,易吸附到极靴上,原则上电镜(SEM和TEM)不拍磁性样品。但是不同的设备,测试老师不同的样品处理经验状况下,对所拍样品中磁性强弱的接受度不同,所以在预约时候请大家务必如实填写样品是否含磁及磁性的强弱。磁性样品定义: 磁性样品:含铁、钴、镍、锰等磁性元素均为...
要想看清这些结构,就必须选择波长更短的光源,以提高显微镜的分辨率。而mappin可以直观的显示出来各元素的分布情况。在飞秒检测做TEM mapping测试对样品有以下几点要求:(1)粉末、液体样品均可,需要离子减薄、双喷、FIB、切片制样(2)强磁性样品要求颗粒大小不超过200纳米(3)样品是否含有磁性...
TEM-mapping分析、检测、透射电镜mapping测试 ——浙大柘大化工检测中心:罗工13336185021,QQ1835971532 一般电镜上只配了DC电子束偏转线圈,只有配了扫描附件之后,也就是在DC线圈上叠加一个AC线圈之后,可以控制电子束平行于光轴在样品上扫描,一般如有STEM的话,就可以做Mapping。
通过对截面的形貌观察,可以看到晶界的分布、晶界的界限、循环后的颗粒的裂纹、缺陷以及晶格条纹和晶面分析,从而进一步研究裂纹、晶界、晶面组成对电性能的影响。此外,利用元素分布映射(mapping)技术,我们还可以观察主成分元素的分布是否均匀。这些分析方法对于材料性能的研究和改进具有重要的指导作用。