TEM的mapping就是扫描每个点,然后把每个点得到的能谱图按特定的元素峰画图,得到位置和这个元素峰的强度的关系,在面扫模式下,EDS通过在样品表面选择一个面进行扫描,获取整个区域的元素分布信息。面扫模式广泛用于材料的成分分析、相区分析和颗粒大小分布等应用。 图中每一种元素都由不同的颜色代表,它在所分析区域内...
汇聚光（STEM）方式成像与平行光电子束不同，它是用聚集电子束对试样进行逐点扫描来实现的，如果需要直接体现试样原子信息或者EDS-Line Scan,EDS-Mapping和STEM-EELS浓度较低的成分分析时，可以选择STEM方式进行成像。STEM模式下最常用的是HAADF-STEM像，像的强度正比于原子序数Z的平方，Z越大像越亮。测试过程中利用...
此外，结合能量色散谱（EDS）技术，我们可以进一步分析该材料的成分组成和分布。在TEM的STEM成像模式下，EDS mapping可揭示材料的详细成分分布。从EDS mapping图中可见，该材料主要由C、Cu、O三种元素构成。在测试过程中，通常会选取特定形貌区域，并给出包含所有元素的同时存在的分布图，以及每个元素的单独分布图（如图...
样品的厚度不超过100 nm,如果颗粒稍大一点,可适当研磨至100 nm以下(可先拍SEM判定颗粒大小)。 3.一般制样选普通碳膜铜网/微栅铜网即可,如果颗粒直径小于10 nm用超薄碳膜制样;样品含Cu,需要拍EDS能谱和mapping可选镍网或者钼网;样品含C,且颗粒大于100nm,需要拍摄EDS能谱和mapping...
(a) Mn3O4@CoMn2O4-CoxO纳米颗粒线扫图 (b) Au/Fe3O4异质结构纳米颗粒的高角环形暗场像(HAADF)以及与之对应颗粒的EDS-Mapping (c) Au/Fe3O4异质结构界面处原子柱铁离子的EELS光谱 三、TEM前线应用 除了上述常见功能之外,伴随着技术的进步,在TEM的基本功能和结构基础上进行了不同的研制和改造,从而使TEM前...
此篇,我们来分享使用PS排列TEM投射图和STEM扫描透射电子显微镜拍摄的Mapping元素分布图。 一、排列图片 1)置入TEM图片并调整。 首先,画布依然是60 cm * 60 cm。然后,先置入两张纳米球的TEM投射图(为了保护图片所有权,这里给TEM图搭上了马赛克)。一般TEM图像素都比较高,在当前画板中,显得太大,因次准备将其缩小...
与平行光电子束成像不同，STEM方式采用聚集电子束对试样进行逐点扫描。这种模式特别适用于需要直接体现试样原子信息或进行低浓度成分分析的情况，如EDS-Line Scan、EDS-Mapping和STEM-EELS等。在STEM模式下，HAADF-STEM像是常用的成像方式。其像的强度与原子序数Z的平方成正比，因此原子序数越大的元素在图像中越亮。通...
EDS面扫Mapping数据解析 EDS面扫mapping数据包含以下内容：（1）暗场形貌图，提供样品的整体形态信息。（2）各元素彩色分布图，展示不同元素在样品中的分布情况。（3）Mix图，反映样品中多种元素的混合情况。（4）mapping能谱数据图，详细展示各元素含量及分布。（5）CSV格式的mapping数据或txt格式的元素含量数据，...
此篇,我们来分享使用PS排列TEM投射图和STEM扫描透射电子显微镜拍摄的Mapping元素分布图。 一、排列图片 1)置入TEM图片并调整。 首先,画布依然是60 cm * 60 cm。然后,先置入两张纳米球的TEM投射图(为了保护图片所有权,这里给TEM图搭上了马赛克)。一般TEM图像素都比较高,在当前画板中,显得太大,因次准备将其缩小...
(a) Mn3O4@CoMn2O4-CoxO纳米颗粒线扫图(b) Au/Fe3O4异质结构纳米颗粒的高角环形暗场像(HAADF)以及与之对应颗粒的EDS-Mapping (c) Au/Fe3O4异质结构界面处原子柱铁离子的EELS光谱 三、TEM前线应用 除了上述常见功能之外,伴随着技术的进步,在TEM的基本功能和结构基础上进行了不同的研制和改造,从而使TEM前线...