HRTEM进一步确证了这一结构(c,d),同时可以确定碳层间距为0.36 - 0.37 nm(e,f)。图g-j为HAADF-STEM表征图。(个人觉得这里的STEM表征的用处不大)。最终总结这些表征,作者推测并模拟催化剂如图6k所示。
从成像角度来分析，其与前面两者最大的区别是：TEM和HRTEM的光照射范围是面，而STEM是一点一点的扫射，然后再收集。有个不合时宜的比喻：一为手电筒光源，一为激光器光源。很明显，激光器更精细地刻画了其结构。前文提到STEM还有明场与暗场。STEM常常和HAADF连用。HAADF属于高角度环状暗场探测器。示意图见图7。图7...
STEM模式下最常用的是HAADF-STEM像,像的强度正比于原子序数Z的平方,Z越大像越亮。测试过程中利用HAADF探头采集样品信息,可以收集得到样品的原子和成分信息。STEM模式也可以进行汇聚束衍射(Convergent beam electron diffraction, CBED)、BF-STEM(Bright field image)、ADF-STEM(Annular dark field image)等成像拍摄。
HRTEM则提供了更高的分辨率，可达原子级别，可用于揭示晶体内部结构和原子排布。但需要极薄的样品和精确的欠焦调整，以获得准确的相位衬度像。虽然理论上能观察单个原子，但在实际应用中可能需要软件辅助，如图6所示。STEM采用点扫描方式，比前两者更精细，类似于激光光源。它结合HAADF-STEM，能收集高角散射...
STEM HAADF像、EDX与EELS像4、HRTEM(高分辨像)用于观察晶体的内部结构,原子排布和位错,孪晶的精细结构。高分辨像即相位衬度像,它是参与成像的所有衍射束和透射束之间由于相位差所产生的干涉图像。(a)Au-Pd核壳纳米棒的高分辨像及FFT变换图(相当于电子衍射图)(b)a中的局部放大图e-j N-CNT组装的中空十二面体...
HRTEM：高分辨率的TEM，可用来观察晶面间距，晶格间距以及原子排布等。STEM：与TEM和HRTEM相比，STEM的光照射范围是经一点一点的扫射之后再收集。透射电镜是形貌表征科研工作中必不可少的组成部分，下面就是给出一些国内外经典论文透射电镜表征实例供参考。图1. 纳米材料原子级表征 牛津大学Peter D. Nellist、Laura M....
图3-2 金属层的STEM-HAADF像和EDS元素分析 此颗4nm芯片的M0层材料为Co，与14nm和7nm工艺的M0层的W...
透射电镜图像的解读 :质厚衬度像;电子衍射图;明暗场像;晶格像;透射电镜主要实验技术:HRTEM技术;AEM技术;STEM技术;3D技术;原位动态分析技术;远程控制技术;金鉴实验室配备两台TF20场发射透射电镜,具备较高的分辨率,通过TEM技术,能够观察到材料的微观形貌、颗粒尺寸、微区组成等,为材料的深入研究提供了强有力的支持...
TEM -投射电镜 Lecture 11 - 高分辨透射电子显微镜HRTEM and 扫描投射STEM