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能量色散X射线谱仪（EDS）则是一种用于分析材料元素组成的仪器。它能够探测到材料在电子束轰击下发出的特征X射线，通过分析这些X射线的能量和波长，可以确定材料中元素的种类和含量。在钠电池正极材料检测中，EDS常用于分析正极材料的元素组成以及包覆层中元素的分布情况。测试概念 目前正极材料的主流包覆技术分为干法、...
可使用TEM进行形貌/尺寸、膜层、EDS元素分析(定性、定量、线分布、面分布)等,目前被广泛用于材料、化学、生物、医学、地质等各类领域。 1、微观形貌 通过TEM对粉末进行拍摄,可表征样品颗粒大小,并得到纳米级别的颗粒形貌图: 2、多层结构截面 多层光学镜片通过FIB制样后,可用TEM表征截面结构,量取每层的厚度,通过联...
EDS,中文全称X射线能谱分析,英文全称Energy Dispersive Spectrometer。 能谱具有操作简单、分析速度快以及结果直观等特点,常用来分析材料微区成分的元素种类与含量, 而且早已成为扫描电镜SEM和透射电镜TEM的标准配件之一。 TEM Imaging&Analysis简称TIA,是FEI的一款透射电镜图像和能谱图处理分析软件,也是和Gatan Digital Mic...
通过TEM图像,研究人员可以直观地了解正极材料的微观结构特征,从而评估其性能。 能量色散X射线谱仪(EDS)则是一种用于分析材料元素组成的仪器。它能够探测到材料在电子束轰击下发出的特征X射线,通过分析这些X射线的能量和波长,可以确定材料中元素的种类和含量。在钠电池正极材料检测中,EDS常用于分析正极材料的元素组成以及...
可使用TEM进行形貌/尺寸、膜层、EDS元素分析（定性、定量、线分布、面分布）等，目前被广泛用于材料、化学、生物、医学、地质等各类领域。1、微观形貌 通过TEM对粉末进行拍摄，可表征样品颗粒大小，并得到纳米级别的颗粒形貌图：2、多层结构截面 多层光学镜片通过FIB制样后，可用TEM表征截面结构，量取每层的厚度，通过...
在SEM中的30kV电压条件下,使用TEM-EDS定量分析常用的Cliff -Lorimer方法即k因子法,结果见下表。TEM-EDS结果标记为橙色,相比前述结果,定量准确性有了明显提高。 利用TEM和SEM-STEM对薄样品进行EDS分析时,可获得高空间分辨率的结果。对于TEM-EDS分析,仅利用单个标样(已知厚度的Si3N4薄样品标样),即可获得待测样品的...
做EDS成份分析的人都知道在SEM/EDS系统中,轻元素的X光吸收效应非常显著,所以定量成份分析时,必须使用ZAF法(Z指原子序数/atomic number;A指吸收/absorption;F指荧光性/fluorescence)修正,也就是说在SEM/EDS中,吸收效应非常显著。相对于SEM使用块材当样品,TEM使用薄片(thin foil)型试片,因此很多人认为在TEM/EDS分析...
EDS:能量弥散X射线谱(Energy-dispersive X-ray spectroscopy SEM:scanning electron microscope扫描电子显微镜 FE-SEM:Field-Emission Scanning Electron Microscope场发射扫描电子显微镜 STM:scanning tunneling microscope扫描隧道显微镜 AFM:Atomic force microscopy原子力显微镜 XRD:X-ray diffractionX射线衍射 XPS:X-ray p...