以下是一个常规的TEM中EDX元素分析的步骤: 1.样品制备:首先,需要制备好待测样品。根据需要测量的样品类型和大小,可以选择不同的样品制备方法,如制备薄片或直接使用粉末样品。 2.样品加载:将制备好的样品装置到透射电子显微镜的样品台上。确保样品处于平整且稳定的状态,以获得清晰的显微镜图像。 3.检查样品:在进行...
能谱分析EDX 1.开始菜单---<Programs>---<Edax Genesis>---<Genesis RTEM>,出现RTEM control界面。 2.确定物镜光阑已经退出。 3. 调节放大倍数,使Mag.在SA倍以上(LA低倍下易探到Cu网,CPS值剧增);调节样品位置,使其不要在铜网边缘。 4. 在RTEM Control界面中点IN,此时EDX探头将会伸入。 5.注意RTEM ...
EDAX有两个意思,一指X射线能量色散分析法,也称EDS法或EDX法,少用ED表示;二是指最早生产波谱仪的公司—美国EDAX公司。当然生产能谱仪的不只EDAX公司,还有英国的Oxford等。 EDAX指的是扫描电子显微镜(SEM)或透射电子显微镜(TEM)上用的一种附属分析设备—能谱仪,或指的是最早生产能谱仪的公司—美国伊达克斯有限公司...
【测试表征系列之TEM】能谱分析EDX-操作规范.pdf,能谱分析EDX 1. 开始菜单ProgramsEdax GenesisGenesis RTEM ,出现RTEM control界面。 2. 确定物镜光阑已经退出。 3. 调节放大倍数,使Mag.在SA倍以上(LA低倍下易探到Cu网,CPS值剧增);调节样品 位置,使其不要在铜网边缘
TEM样品图像采集和能谱分析 在已经加工的截面的基础上,进行TEM样品制备,原位提取出透射样品切片。样品制备完成后,进行TEM/EDX分析。图3为图2 b) 中两个异常位置(裂纹和白色particles)的TEM明场像;由高倍图像可知,该裂纹终止于poly与下方氧化层的界面处(图3 b红色箭头处)。仅从高倍TEM明场像无法判断异常点的成分...
TEM中EDX元素分析步骤如下图所示haadf双击方框输入实际扫描时的点数本次实验是2020图1所示点sum选项中的integrate得到选中区域的edxhaadf分析的edx3删除原先机器给出的edx图剩余integrate的edx图图2点击sum选项中的integrate选择log中的数据复制到word字体大小12即得到integrate的edx图的元素积分表所示 1、选择元素(markers...
TEM中EDX元素分析步骤1选择元素markers下选择的伪彩图为应该含有全部元素的伪彩图此时也应该包括curoi里面出来伪彩图为所分析的伪彩图点击automapgenerateout得到以下伪彩图以钯负载的丝光沸石为例在上面选择后点击中的generateoutput即可以得到伪彩图 1、选择元素(markers下选择的伪彩图为应该含有全部元素的伪彩图,此时也...
根据不同工作模式,可以做高分辨扫描透射STEM, 高分辨TEM像,配备的球差自动校正实现原子级成像,晶体的选区衍射SAD,FFT快速傅里叶变换做微区晶型分析,其EDX能谱可以做空间分辨率达到纳米级的元素分析;配备的电子能量损失谱EELS, 适合于轻元素如C/N/O/Si在纳米范围内的分析。
透射电子显微镜(TEM)是一种功能强大的分析工具,可分析各种合成材料和天然材料。TEM的高分辨率成像和电子衍射可提供重要的辅助结构信息,晶体结构信息和化学成分信息的结合,可以对相关物质进行完整的表征。 利用TEM可以通过三种不同的分析技术获得固态样品的化学信息:能量...
TEM-EDX纳米级空间分辨率 通过STEM,EDS分析和衍射标定,确定黑线形成的Cr/V/W/Mn第二相 Li元素的EELS分析 样品制备 对于块状的样品,通常采用FIB制备薄片(约50nm厚度),制备方法长常规包括2种类型,一种是Cross session方向,另一种是plan view水平方向。