透射电子显微镜(TEM)是以电子束作为照明源,用电磁透镜聚焦成像的一种高放大倍数的电子光学仪器。根据不同工作模式,可以做高分辨扫描透射STEM, 高分辨TEM像,配备的球差自动校正实现原子级成像,晶体的选区衍射SAD,FFT快速傅里叶变换做微区晶型分析,其EDX能谱可以做空间分辨率达到纳米级的元素分析;配备的电子能量损失谱E...
EDX软件分析 1.点击软件右下方的图标,进入能谱分析界面TIA。 2.在View中调出元素周期表选择需要分析的元素。 3.点击Quantify进行定量分析。 4.数据保存 1点击谱图,选择File-Save As 保存原始数据为emi格式 2右击谱图,选择Export 输出格式为tif或bmp的图片。 3点击数据分析结果,选择File-Save As 保存数据分析 结...
当然,EDX能谱分析在扫描电镜(SEM)系统中也是常见分析方法,并用于通过检测样品被电子撞击时发射的X射线来识别样品的成分。 电子能量损失光谱(EELS)只能在以扫描透射电镜(STEM)模式工作的透射电镜(TEM)系统中实现,并能够反应材料的原子和化学...
以下是一个常规的TEM中EDX元素分析的步骤: 1.样品制备:首先,需要制备好待测样品。根据需要测量的样品类型和大小,可以选择不同的样品制备方法,如制备薄片或直接使用粉末样品。 2.样品加载:将制备好的样品装置到透射电子显微镜的样品台上。确保样品处于平整且稳定的状态,以获得清晰的显微镜图像。 3.检查样品:在进行...
当然,EDX能谱分析在扫描电镜(SEM)系统中也是常见分析方法,并用于通过检测样品被电子撞击时发射的X射线来识别样品的成分。 电子能量损失光谱(EELS)只能在以扫描透射电镜(STEM)模式工作的透射电镜(TEM)系统中实现,并能够反应材料的原子和化学成分,电子性质以及局部厚度测量。 在SEM和TEM之间做出选择 从所提到的一切来...
【测试表征系列之TEM】能谱分析EDX-操作规范.pdf,能谱分析EDX 1. 开始菜单ProgramsEdax GenesisGenesis RTEM ,出现RTEM control界面。 2. 确定物镜光阑已经退出。 3. 调节放大倍数,使Mag.在SA倍以上(LA低倍下易探到Cu网,CPS值剧增);调节样品 位置,使其不要在铜网边缘
FEI F20 performing EDS (or EDX) in TEM mode 透射电镜EDS使用教程(双语翻译) 891 -- 2:42 App 扫描电镜&能谱(SEM&EDS)分析 8998 -- 5:38 App 扫描电镜EDS定量分析方法 8499 -- 0:23 App EDS_mapping简单调整颜色 3558 -- 27:09 App 扫描电镜能谱分析仪之实例教学 543 -- 1:33 App 【...
金鉴实验室 LED芯片TEM-EDX 失效分析 图1 EDX Location（能谱分析EDX） 图2 EDX-01（能谱分析EDX）图3 EDX-02（能谱分析EDX）图4 EDX-03（能谱分析EDX）图5 EDX-04（能谱分析EDX）图6 EDX-05 （能谱分析EDX）
根据不同工作模式,可以做高分辨扫描透射STEM, 高分辨TEM像,配备的球差自动校正实现原子级成像,晶体的选区衍射SAD,FFT快速傅里叶变换做微区晶型分析,其EDX能谱可以做空间分辨率达到纳米级的元素分析;配备的电子能量损失谱EELS, 适合于轻元素如C/N/O/Si在纳米范围内的分析。
2.EDX成分分析结果每次都变化。 答:EDX成分分析结果每次都变化的情况其实很简单,在能谱结果分析软件中,View菜单下有个Periodic table,在其ROI情况下选择你要作定量的元素,鼠标右键选出每个元素所要定量的峰,重新作定量就不会出现你所说的问题。 3.使用2010透射电子显微镜时,发现:当brightness聚到一起时,按下imag...