【测试表征系列之TEM】能谱分析EDX-操作规范.pdf 2页VIP内容提供方:ljszhw1972 大小:156.21 KB 字数:约1.26千字 发布时间:2023-06-13发布于重庆 浏览人气:87 下载次数:仅上传者可见 收藏次数:0 需要金币:*** 金币 (10金币=人民币1元)【测试表征系列之TEM】能谱分析EDX-操作规范.pdf 关闭预览 想预览
EDX软件分析 1.点击软件右下方的图标,进入能谱分析界面TIA。 2.在View中调出元素周期表选择需要分析的元素。 3.点击Quantify进行定量分析。 4.数据保存 1点击谱图,选择File-Save As 保存原始数据为emi格式 2右击谱图,选择Export 输出格式为tif或bmp的图片。 3点击数据分析结果,选择File-Save As 保存数据分析 结...
以下是一个常规的TEM中EDX元素分析的步骤: 1.样品制备:首先,需要制备好待测样品。根据需要测量的样品类型和大小,可以选择不同的样品制备方法,如制备薄片或直接使用粉末样品。 2.样品加载:将制备好的样品装置到透射电子显微镜的样品台上。确保样品处于平整且稳定的状态,以获得清晰的显微镜图像。 3.检查样品:在进行...
金鉴实验室 LED芯片TEM-EDX 失效分析 图1 EDX Location（能谱分析EDX） 图2 EDX-01（能谱分析EDX）图3 EDX-02（能谱分析EDX）图4 EDX-03（能谱分析EDX）图5 EDX-04（能谱分析EDX）图6 EDX-05 （能谱分析EDX）
值得注意的是，EDX能谱分析在扫描电镜（SEM）系统中也发挥着重要作用，它通过检测样品被电子撞击时发射的X射线来识别样品的元素成分。而电子能量损失光谱（EELS）则只能在透射电镜（TEM）的STEM模式下进行，它能够提供关于材料的原子和化学成分、电子性质以及局部厚度测量的详细信息。此外，STEM模式还结合了TEM图像模式和...
EDX能谱：配备了电制冷探头，面积达到100 mm2，固体角为28srad，能量分辨率为≤ 129eV (Mn-Kα)@10 kcps，满足了能谱分析的需求。一体化超快速CMOS相机：像素与尺寸：拥有40964096像素的感应尺寸，以及1414 m2的像素大小。拍摄速率：在4k4k分辨率下可达到1 fps，2k2k下为8 fps，1k1k下为18 fps，而512512...
当然,EDX能谱分析在扫描电镜(SEM)系统中也是常见分析方法,并用于通过检测样品被电子撞击时发射的X射线来识别样品的成分。 电子能量损失光谱(EELS)只能在以扫描透射电镜(STEM)模式工作的透射电镜(TEM)系统中实现,并能够反应材料的原子和化学成...
EDX 分析在扫描电镜系统中也是常见的分析方法,它通过检测样品被电子撞击时发射的 X 射线来识别样品的成分。 电子能量损失谱(EELS):EELS 只能在以 STEM 模式工作的透射电镜系统中实现。EELS 能够反应材料的原子和化学成分、电子性质以及进行局部厚度测量。 三、不同技术的应用场景和优势 扫描电镜(SEM): 优势:主要...
根据不同工作模式,可以做高分辨扫描透射STEM, 高分辨TEM像,配备的球差自动校正实现原子级成像,晶体的选区衍射SAD,FFT快速傅里叶变换做微区晶型分析,其EDX能谱可以做空间分辨率达到纳米级的元素分析;配备的电子能量损失谱EELS, 适合于轻元素如C/N/O/Si在纳米范围内的分析。 设备及工作模式 设备参数 STEM分辨率:...
当然，EDX能谱分析在扫描电镜(SEM)系统中也是常见分析方法，并用于通过检测样品被电子撞击时发射的X射线来识别样品的成分。电子能量损失光谱（EELS）仅能在扫描透射电镜（STEM）方式下运行的透射电镜系统（TEM）内进行，且能反应材料原子及化学成分、电子性质及局部厚度测量。在SEM和TEM之间做出选择 从所提到的一切来看...