透射电子显微镜是一种高放大倍数的电子光学仪器,它以电子束作为照明源,用电磁透镜聚焦成像。透射电镜不仅可以用于观察材料的微观形貌和结构,还可以结合能量色散X射线光谱(EDS)进行化学成分分析。EDS技术能够分析样品中元素的种类和分布,为材料研究提供丰富的信息。 测试概念 三元正极颗粒截面微观形貌是指截面微观几何特性的...
二、汇聚光照射模式（STEM）汇聚光（STEM）方式成像与平行光电子束不同，它是用聚集电子束对试样进行逐点扫描来实现的，如果需要直接体现试样原子信息或者EDS-Line Scan,EDS-Mapping和STEM-EELS浓度较低的成分分析时，可以选择STEM方式进行成像。STEM模式下最常用的是HAADF-STEM像，像的强度正比于原子序数Z的平方，Z...
TEM的mapping就是扫描每个点,然后把每个点得到的能谱图按特定的元素峰画图,得到位置和这个元素峰的强度的关系,在面扫模式下,EDS通过在样品表面选择一个面进行扫描,获取整个区域的元素分布信息。面扫模式广泛用于材料的成分分析、相区分析和颗粒大小分布等应用。 图中每一种元素都由不同的颜色代表,它在所分析区域内...
在TEM平行光模式下,收集到的元素特征X射线按照能量展开成谱,能量对应元素出峰,峰面积比即为元素含量比。 二、汇聚光照射模式(STEM) 汇聚光(STEM)方式成像与平行光电子束不同,它是用聚集电子束对试样进行逐点扫描来实现的,如果需要直接体现试样原子信息或者EDS-Line Scan,EDS-Mapping和STEM-EELS浓度较低的成分分析...
TEM的mapping 和SEM 的mapping模式是一样的,都是将能谱EDS组合在一起使用的。 TEM的放大倍数要比SEM的高,当然两者的成像原理也是不同的,SEM是电子束激发出表面次级电子,而TEM则是穿透试样,所以TEM样品要求很薄,只有几十nm, TEM一般能放大几百万倍,而SEM只有几万倍。SEM通常看材料的表面形貌、缺口断面,TEM则可...
透射电镜TEM能谱(EDS line scan)数据处理———线扫(line scan)基本操作 1852 -- 1:37:30 App EDS软件使用培训 6539 1 5:40 App origin绘制eds能谱图/origin对eds 能谱图进行数据处理^ ^ 1.7万 2 12:29 App SEM扫描电镜能谱分析EDX Mapping 12.5万 48 13:30 App 研究生论文干货:透射电镜TEM晶格...
汇聚光(STEM)方式成像与平行光电子束不同,它是用聚集电子束对试样进行逐点扫描来实现的,如果需要直接体现试样原子信息或者EDS-Line Scan,EDS-Mapping和STEM-EELS浓度较低的成分分析时,可以选择STEM方式进行成像。 STEM模式下最常用的是HAADF-STEM像,像的强度正比于原子序数Z的平方,Z越大像越亮。测试过程中利用HAADF...
透射电子显微镜是一种高放大倍数的电子光学仪器,它以电子束作为照明源,用电磁透镜聚焦成像。透射电镜不仅可以用于观察材料的微观形貌和结构,还可以结合能量色散X射线光谱(EDS)进行化学成分分析。EDS技术能够分析样品中元素的种类和分布,为材料研究提供丰富的信息。
3.一般制样选普通碳膜铜网/微栅铜网即可,如果颗粒直径小于10 nm用超薄碳膜制样;样品含Cu,需要拍EDS能谱和mapping可选镍网或者钼网;样品含C,且颗粒大于100nm,需要拍摄EDS能谱和mapping可选微栅网。 4. 磁性样品请务必提前确定机时,要求颗粒大小不超过200 nm,且不接受自己制样,请...
可使用TEM进行形貌/尺寸、膜层、EDS元素分析(定性、定量、线分布、面分布)等,目前被广泛用于材料、化学、生物、医学、地质等各类领域。 1、微观形貌 通过TEM对粉末进行拍摄,可表征样品颗粒大小,并得到纳米级别的颗粒形貌图: 2、多层结构截面 多层光学镜片通过FIB制样后,可用TEM表征截面结构,量取每层的厚度,通过联...