透射电子显微镜是一种高放大倍数的电子光学仪器,它以电子束作为照明源,用电磁透镜聚焦成像。透射电镜不仅可以用于观察材料的微观形貌和结构,还可以结合能量色散X射线光谱(EDS)进行化学成分分析。EDS技术能够分析样品中元素的种类和分布,为材料研究提供丰富的信息。 测试概念 三元正极颗粒截面微观形貌是指截面微观几何特性的...
TEM的mapping就是扫描每个点,然后把每个点得到的能谱图按特定的元素峰画图,得到位置和这个元素峰的强度的关系,在面扫模式下,EDS通过在样品表面选择一个面进行扫描,获取整个区域的元素分布信息。面扫模式广泛用于材料的成分分析、相区分析和颗粒大小分布等应用。 图中每一种元素都由不同的颜色代表,它在所分析区域内...
EDS点扫数据含有:(1)点扫区域形貌图。(2)点扫能谱数据图。(3)点扫CSV数据或元素含量txt数据。 EDS线扫: EDS line scan线扫数据包含:(1)线扫暗场形貌图。(2)线扫能谱数据图。(3)线扫CSV数据或元素含量txt数据。 EDS面扫: 面扫mapping数据包括:(1)暗场形貌图。(2...
EDS面扫mapping数据包含以下内容：（1）暗场形貌图，提供样品的整体形态信息。（2）各元素彩色分布图，展示不同元素在样品中的分布情况。（3）Mix图，反映样品中多种元素的混合情况。（4）mapping能谱数据图，详细展示各元素含量及分布。（5）CSV格式的mapping数据或txt格式的元素含量数据，便于进一步分析和处理。常见...
(a) Mn3O4@CoMn2O4-CoxO纳米颗粒线扫图(b) Au/Fe3O4异质结构纳米颗粒的高角环形暗场像(HAADF)以及与之对应颗粒的EDS-Mapping(c) Au/Fe3O4异质结构界面处原子柱铁离子的EELS光谱 TEM的前沿应用 随着技术的进步,TEM的基本功能和结构基础上进行了不同的研制和改造,使得TEM的前沿应用得到了开拓和发展。例如,...
3.一般制样选普通碳膜铜网/微栅铜网即可,如果颗粒直径小于10 nm用超薄碳膜制样;样品含Cu,需要拍EDS能谱和mapping可选镍网或者钼网;样品含C,且颗粒大于100nm,需要拍摄EDS能谱和mapping可选微栅网。 4. 磁性样品请务必提前确定机时,要求颗粒大小不超过200 nm,且不接受自己制样,请...
TEM形貌观察及HRTEM,SAED衍射分析、EDS成分分析、STEM形貌、Mapping 样本检测注意事项 1) 样品量5mg以上,有特殊要求请及时说明 2) 明确标注样品成分 3) 要求缓冲液不具有腐蚀性 4) 对其它可能危害仪器的样品必须事先注明,并告知相关防护措施 测试仪器 仪器名称: 高分辨透射电镜测试(300kv TEM) 仪器型号: Tecnai ...
微谱可为您提供低分辨/高分辨形貌观察、EDS点扫/mapping/线扫元素分析、冷冻TEM、电子衍射等多种TEM服务项目。 微谱积累了丰富的测试经验,可针对材料样品、生物样品等不同样品体系制定个性化测试方案,并提供线上会议等方式便于您在线跟进测试情况。如有相关测试需求,欢迎详询。
能量色散X射线谱仪（EDS）则是一种用于分析材料元素组成的仪器。它能够探测到材料在电子束轰击下发出的特征X射线，通过分析这些X射线的能量和波长，可以确定材料中元素的种类和含量。在钠电池正极材料检测中，EDS常用于分析正极材料的元素组成以及包覆层中元素的分布情况。测试概念 目前正极材料的主流包覆技术分为干法、...
透射电子显微镜是一种高放大倍数的电子光学仪器,它以电子束作为照明源,用电磁透镜聚焦成像。透射电镜不仅可以用于观察材料的微观形貌和结构,还可以结合能量色散X射线光谱(EDS)进行化学成分分析。EDS技术能够分析样品中元素的种类和分布,为材料研究提供丰富的信息。