1.透射电子显微镜(Transmission Electron Microscope,简称TEM)测试,主要包括形貌尺寸、SAED、HRTEM、EDS能谱(包括点扫、线扫、面扫)等项目,可以获得材料的形貌、尺寸、元素分布和含量等信息,广泛应用于材料、物理、化学以及生命等科学领域。 2.注意此电镜主要是材料类样品拍摄,生物...
简短的回答是:不一定。 EDS(能量色散X射线光谱仪)和TEM(透射电子显微镜)是两种截然不同的分析技术,但它们可以一起使用来提供材料的更完整信息。 TEM使用一束高能电子穿透样品来产生图像。这些电子与样品中的原子相互作用,从而产生可用于形成图像的信息。TEM可以提供样品的结构和形态信息,分辨率可达原子级。 EDS则通过...
🔍 普通形貌:透射电镜可以直接观察样品的形貌,提供直观的视觉信息。🔬 HRTEM:高分辨率透射电镜(HRTEM)可以观察到晶格结构,揭示材料的原子排列。🔧 EDS点/线/面(Mapping):能量色散谱(EDS)可以分析样品中的元素分布,提供元素映射图像。🔩 选区衍射:通过选区衍射,可以获得特定区域的晶体结构信息。🔬 STEM/HAADF:...
透射电镜(TEM测试)是一种强大的材料分析工具,能够提供多种观察和测量手段。以下是它的主要功能: 普通形貌观察:直接观察材料的微观形貌。 HRTEM(高分辨率透射电镜):提供高分辨率的图像,揭示材料的晶体结构。 EDS点/线/面(Mapping):进行元素分布分析,生成元素映射图像。 选区衍射:通过选区衍射分析,研究材料的晶体结构和...
图2TEM中STEM模式的示意图。以高角度散射的电子被环形检测器捕获以形成Z对比度图像。捕捉x射线光子以形成STEM–EDS元素图。明场探测器从透射束的路径上收回,用于STEM-EELS检测。 环形探测器通常安装在TEM镜筒的指定端口,高度固定。在多晶材料中,BF和ADF图像...
从EDS 高通量、高信噪比元素映射到超高分辨率 EELS 探测氧化态和表面声子,Spectra 300 (S)TEM 提供灵活的能谱配置,以适应最广泛的分析要求。 Spectra 300 (S)TEM 可根据客户选择配置三种不同能量分辨率的电子源(X-FEG Mono、X-FEG UltiMono 和 X-CFEG),两种不同几何构造的 ...
🔍透射电镜/TEM测试,包括HRTEM、EDS能谱-点/线/面mapping以及电子衍射等多种功能,是材料科学研究中不可或缺的工具。🔬📸在HRTEM模式下,可以观察到材料的微观结构,从而深入了解材料的性能和组成。📊EDS能谱分析则能提供元素的分布和含量信息,帮助研究人员进行元素映射和成分分析。📐...
透射电子显微镜是一种高放大倍数的电子光学仪器,它以电子束作为照明源,用电磁透镜聚焦成像。透射电镜不仅可以用于观察材料的微观形貌和结构,还可以结合能量色散X射线光谱(EDS)进行化学成分分析。EDS技术能够分析样品中元素的种类和分布,为材料研究提供丰富的信息。
原子级 EDS EDS 元素分析 EELS 原位实验 颗粒分析 多尺度分析 自动化颗粒工作流程 能量色散谱EDS 能量色散谱(EDS)可采集详细的元素信息以及电子显微镜图像,为电镜观察提供关键的组成背景。利用EDS可通过快速、整体的表面扫描至各个原子以确定化学成分。 了解更多 › ...
4TEM的元素分析 配备场发射源的 TEM 具有小束斑的高亮度电子束,可对厚度小于几百埃的区域进行高空间分辨率(约1 nm)的元素分析。TEM 的元素分析技术是利用电子束穿过样品时发生的非弹性散射(能量损失)事件,这两种常用技术是EDS和EELS。 4.1能量色散谱(EDS) ...