1.透射电子显微镜(Transmission Electron Microscope,简称TEM)测试,主要包括形貌尺寸、SAED、HRTEM、EDS能谱(包括点扫、线扫、面扫)等项目,可以获得材料的形貌、尺寸、元素分布和含量等信息,广泛应用于材料、物理、化学以及生命等科学领域。 2.注意此电镜主要是材料类样品拍摄,生物...
- 元素映射主要利用的是X射线信号。不同元素的原子在受到电子轰击时会发射出特定能量的X射线,这些X射线的能量与元素的种类直接相关。 - 通过收集并分析这些X射线信号,可以确定样品中存在的元素种类及其相对含量。 2. **分析方法**: - **能量色散谱仪(Energy Dispersive Spectrometer, EDS)**:EDS是最常用的元素...
在EDS中,主要是收集电子入射到样品上时各种元素发出的特征X射线。一种元素产生的特征X射线很容易被同一体积中的另一种元素吸收。因此,该技术的灵敏度取决于检测到的元素和元素的体积组成。 要进行准确的定量结果,需要已知成分的参考样品。使用最先进的超薄或...
3.能量色散X射线谱EDS (1)点扫 点分析是在样品的某一特定位置进行能谱采集，以获取该点的元素成分信息。(2)线扫 线分析是在样品表面沿着一条直线逐点进行能谱采集，以了解该线上的元素分布。需要分析的线段，通常是跨越不同的相或界面，得到各元素不同位置的变化情况。(3)面扫 面扫也就是常说的mapping，...
非弹性散射会产生能量损失电子、X 射线发射、二次电子发射,有时还会产生可见光发射(即阴极发光或 CL)。TEM 中分析的两种最常见的非弹性信号是通过电子能量损失谱 (EELS) 测量的能量损失电子,以及使用能量色散 X 射线谱(即 EDS 或 EDX 谱)检测到的特征 X 射线。
HAADF采用高角环形暗场成像技术,是在STEM模式下的成像,可以增强对重元素的对比度,其衬度与元素原子序数以及样品厚度相关,原子序数越大,样品越厚,成像越亮。适用于突显金属样品的析出相,观察纳米材料、金属、陶瓷、薄膜等材料。 图3 HAADF示例 3.能量色散X射线谱EDS ...
🔧 EDS点/线/面(Mapping):能量色散谱(EDS)可以分析样品中的元素分布,提供元素映射图像。🔩 选区衍射:通过选区衍射,可以获得特定区域的晶体结构信息。🔬 STEM/HAADF:扫描透射电镜(STEM)和高级环形暗场成像(HAADF)技术,可以提供更高分辨率的图像。这些测试方法结合在一起,可以全面了解材料的微观结构和性质,为材料...
透射电镜(TEM测试)是一种强大的材料分析工具,能够提供多种观察和测量手段。以下是它的主要功能: 普通形貌观察:直接观察材料的微观形貌。 HRTEM(高分辨率透射电镜):提供高分辨率的图像,揭示材料的晶体结构。 EDS点/线/面(Mapping):进行元素分布分析,生成元素映射图像。
4TEM的元素分析 配备场发射源的 TEM 具有小束斑的高亮度电子束,可对厚度小于几百埃的区域进行高空间分辨率(约1 nm)的元素分析。TEM 的元素分析技术是利用电子束穿过样品时发生的非弹性散射(能量损失)事件,这两种常用技术是EDS和EELS。 4.1能量色散谱(EDS) ...
能谱仪(EDS):能够分析样品中的元素组成及其分布,通常用于获得元素的定性和定量信息。 电子能量损失谱(EELS):通过测量透过样品的电子的能量损失,可以获得关于样品的化学键和电子结构的信息。 TEM-Mapping的应用 TEM-Mapping分析广泛应用于材料科学、纳米技术、电子工程等多个领域。其主要应用包括: 纳米材料表征:研究纳米...