日立扫描电子显微镜SU9000(SEM) 日立扫描电子显微镜SU9000(SEM)是日立公司2011年推出的超高分辨冷场发射扫描电镜,达到扫描电镜二次电子分辨率0.4nm和STEM分辨率0.34nm。 日立SU9000采取了新改进的真空系统和电子光学系统,不仅分辨率性能明显提升,而且作为一款冷场发射扫描电镜甚至不需要传统意义上的Flashing操作,可以高效率的...
这是为了轰击去除电子源（灯丝）尖端吸附的气体分子，能够起到清洁作用。
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