使能过采样,右移4位,256倍过采样。这样就可以直接当作16位ADC来用了。 生成代码后,输入2.5V的电压,进行采样测试,程序如下: HAL_ADCEx_Calibration_Start(&hadc1);HAL_Delay(200);HAL_ADC_Start_DMA(&hadc1,(uint32_t*)ADC_Buf,100); 采样结果如下,可以看到,有最大4个字的跳动。当然这也跟硬件的布局...
STM32MP157系列有2个ADC(ADC1和ADC2),每个ADC都可以独立工作,每个ADC都可以单独分配给A7或者M4内核来使用。ADC1和ADC2除了可以工作在独立模式以外,还可以在双重模式下工作(提高采样率,ADC1为主机),STM32MP157的ADC主要特性我们可以总结为以下几条: (1)可配置16位、14位、12位、10位或8位分辨率,可通过降低...
数据每右移一个bit,就相当于除以2,如果要除以16倍过采样,16是2的4次方,所以就是过采样数据之和右移4个bit,是不是很巧妙?此外手册中还指明所得的结果并不是直接舍弃最后一位,而是过采样数据之和除以过采样倍数后四舍五入的整数。 再后面:规则组采样模式,选择连续模式, 连续模式是指如果有注入组ADC触发规则组...
1. 因为压感信号比较小,假如单独用12位ADC采集,其精度不够。 2. 假如压感供电3.3v,大概计算12位ADC的1ADC = 805uV。没法识别几十或几百uv的压感信号,所以得增加识别精度。 3. 用过采样方式来提高: 软件上,把12bitADC扩展为16bit数据,有效位数为14bit,原理为每隔0.625ms采集一次传感器信号,每16次ADC数据...
STM32系列芯片中的ADC支持硬件平均值计算功能，可以在一次转换周期内自动进行多次采样并平均，从而提高采样...
关于硬件过采样,关键的就两个.一个是移位,一个是采样次数倍数.如果要获得16Bit的ADC,那么最高才4.5...
44.4 源文件stm32h7xx_hal_adc.c 44.5 总结 44.1 初学者重要提示 STM32H7虽然支持差分,但不支持负压测量。 STM32H7的ADC采集通道体验快速通道Fast Channels和低速通道Slow Channels的区别,详情看本章2.12小节的电气特性。 STM32H7的ADC支持过采样,通过过采样技术可以做到26位分辨率。
通过对文章的分析,发现它的实验结果并不能得到16 bit 精度采样数据。如果要达到 16 bit 精度,那么采样数据和理论值差值小于 8 才可能。但通过分析该实验结果发现几乎没有这样的数据出现,几乎都是 >= 8 ,也就是说根本就没有提高哪怕 1 bit 的精度。但是过... 0 STM32 ADC 过采样技术.pdf 87 Bytes ...
？而每次AD中断中，参数设置的时候，是否都要关中断HAL_ADC_Stop_IT() ，参数设置完在开中断HAL_ADC...
46.5 ADC驱动移植和使用 46.6 实验例程设计框架 46.7 实验例程说明(MDK) 46.8 实验例程说明(IAR) 46.9 总结 46.1 初学者重要提示 学习本章节前,务必优先学习第44章,需要对ADC的基础知识和HAL库的几个常用API有个认识。 开发板右上角有个跳线帽,可以让ADC的稳压基准接3.3V或者2.5V,本章例子是接到3.3V。 STM3...