以下是STM和AFM的主要区别: 1. 工作原理 STM:基于量子力学中的隧道效应。当两个非常接近的金属或半导体之间加上一个电压时,电子有可能通过势垒从一个电极“隧穿”到另一个电极。STM利用这一原理,将一个极细的针尖(通常是钨或铂/铱合金制成)作为探针,在样品表面进行扫描。通过测量隧道电流的变化,可以得到样品...
测量原理不同** - AFM:利用探针与样品表面原子间的相互作用力进行测量。 - STM:利用电子隧穿效应进行测量。 **2. 应用范围不同** - AFM:适用于各种类型的材料(包括导体、半导体和非导体)。由于它不依赖于材料的导电性,因此可以应用于更广泛的领域。 - STM:主要适用于导体和半导体材料。对于非导体材料,由于其...
一般而言,观察样品形貌有2种办法,一是“眼见为实”,也就是光学显微镜,如SEM,TEM;二是“盲人摸象”,采用与样品表面的“触觉”来重现样品的形貌,也就是扫描探针显微镜的来源(Scaning probe microscope); SPM包括STM和AFM STM (Scaning tunneling microdscope, STM) 1 历史 1982年,IBM公司苏黎世实验室的Binging和R...