以下是STM和AFM的主要区别: 1. 工作原理 STM:基于量子力学中的隧道效应。当两个非常接近的金属或半导体之间加上一个电压时,电子有可能通过势垒从一个电极“隧穿”到另一个电极。STM利用这一原理,将一个极细的针尖(通常是钨或铂/铱合金制成)作为探针,在样品表面进行扫描。通过测量隧道电流的变化,可以得到样品表面的形貌信息。 AFM:基于原子
AFM:利用探针与样品表面原子间的相互作用力进行测量。 STM:利用电子隧穿效应进行测量。 2. 应用范围不同 AFM:适用于各种类型的材料(包括导体、半导体和非导体)。由于它不依赖于材料的导电性,因此可以应用于更广泛的领域。 STM:主要适用于导体和半导体材料。对于非导体材料,由于其表面缺乏自由电子,STM的测量效果较差。
AFM(Atomic force microscope) 1 历史 为了解决STM样品的限制性,Binning和斯坦福大学的Quate及Gerber等人合作发明了AFM;AFM既可以检测导体,也可以检测绝缘体,可在真空,大气甚至液相中进行检测。 2 基本原理 SPM有两个关键部位,分别是扫描器和探针; 通过在X和Y 2个方向移动电扫描器,从而获得样品整个表面的信号,根据...