膜厚测量范围 15nm~70um 可测晶圆大小 4寸&6寸&8寸 可售卖地 北京;天津;河北;山西;内蒙古;辽宁;吉林;黑龙江;上海;江苏;浙江;安徽;福建;江西;山东;河南;湖北;湖南;广东;广西;海南;重庆;四川;贵州;云南;西藏;陕西;甘肃;青海;宁夏;新疆 型号 SR-Mapping系列 货号 093 价格说明 价格:商品在爱采购的...
一、概述SR-Mapping 系列利用反射干涉的原理进行无损测量,通过分析薄膜表面反射光和薄膜与基底界面反射光相干涉形成的反射谱,同时搭配R-Theta位移台,兼容6到12寸样品,可以对整个样品进行快速扫描,快速准确测量薄膜厚度、光学常数等信息,并对于膜厚均匀性做出评价。■ 光学薄膜测量解决方案;■ 非接触、非破坏测量;■ ...