膜厚测量范围 15nm~70um 可测晶圆大小 4寸&6寸&8寸 可售卖地 北京;天津;河北;山西;内蒙古;辽宁;吉林;黑龙江;上海;江苏;浙江;安徽;福建;江西;山东;河南;湖北;湖南;广东;广西;海南;重庆;四川;贵州;云南;西藏;陕西;甘肃;青海;宁夏;新疆 型号 SR-Mapping系列 货号 093 价格说明 价格:商品在爱采购的...
爱企查为您提供武汉泰仪瑞科技有限公司SR-Mapping系列 反射膜厚仪 快速准确测量薄膜厚度 泰仪瑞科技等产品,您可以查看公司工商信息、主营业务、详细的商品参数、图片、价格等信息,并联系商家咨询底价。欲了解更多气瓶充装培训考核设备、液化石油气、移动式压力容器培训考
一、概述SR-Mapping 系列利用反射干涉的原理进行无损测量,通过分析薄膜表面反射光和薄膜与基底界面反射光相干涉形成的反射谱,同时搭配R-Theta位移台,兼容6到12寸样品,可以对整个样品进行快速扫描,快速准确测量薄膜厚度、光学常数等信息,并对于膜厚均匀性做出评价。■ 光学薄膜测量解决方案;■ 非接触、非破坏测量;■ ...
2 Mapping扩展模块 3 真空泵 紧凑型高精度反射膜厚仪,SR-C系列 紧凑型高精度反射膜厚仪信息由沈阳科晶自动化设备有限公司为您提供,如您想了解更多关于紧凑型高精度反射膜厚仪报价、型号、参数等信息,欢迎来电或留言咨询。 注:该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案,不可用于临床诊...
一、概述SR-C 紧凑型高精度反射膜厚仪,利用光学干涉原理,通过分析薄膜表面反射光和薄膜与基底界面反射光相干涉形成的反射光谱,快速准确测量薄膜厚度、光学常数等信息。■ 光学薄膜测量解决方案;■ 非接触、非破坏测量;■ 核心算法支持薄膜到厚膜、单层到多层薄膜分析;■ 膜厚重复性测量精度:0.02nm■ 配置灵活、支持...
SR-Mapping反射膜厚仪是超快速薄膜表征仪器,通过分析薄膜表面反射光和薄膜与基底界面反射光相干涉形成的反射光谱,从而测量薄膜的厚度及光学常数。 详情介绍 一、概述 SR-Mapping系列利用反射干涉的原理进行无损测量,通过分析薄膜表面反射光和薄膜与基底界面反射光相干涉形成的反射谱,同时搭配R-Theta位移台,兼容6到12寸样...
SR-Mapping反射膜厚仪是超快速薄膜表征仪器,通过分析薄膜表面反射光和薄膜与基底界面反射光相干涉形成的反射光谱,从而测量薄膜的厚度及光学常数。 详情介绍 一、概述 SR-Mapping系列利用反射干涉的原理进行无损测量,通过分析薄膜表面反射光和薄膜与基底界面反射光相干涉形成的反射谱,同时搭配R-Theta位移台,兼容6到12寸样...
SR-Mapping反射膜厚仪是超快速薄膜表征仪器,通过分析薄膜表面反射光和薄膜与基底界面反射光相干涉形成的反射光谱,从而测量薄膜的厚度及光学常数。 详情介绍 一、概述 SR-Mapping系列利用反射干涉的原理进行无损测量,通过分析薄膜表面反射光和薄膜与基底界面反射光相干涉形成的反射谱,同时搭配R-Theta位移台,兼容6到12寸样...
SR-Mapping反射膜厚仪是超快速薄膜表征仪器,通过分析薄膜表面反射光和薄膜与基底界面反射光相干涉形成的反射光谱,从而测量薄膜的厚度及光学常数。 详情介绍 一、概述 SR-Mapping系列利用反射干涉的原理进行无损测量,通过分析薄膜表面反射光和薄膜与基底界面反射光相干涉形成的反射谱,同时搭配R-Theta位移台,兼容6到12寸样...
SR-Mapping反射膜厚仪是超快速薄膜表征仪器,通过分析薄膜表面反射光和薄膜与基底界面反射光相干涉形成的反射光谱,从而测量薄膜的厚度及光学常数。 详情介绍 一、概述 SR-Mapping系列利用反射干涉的原理进行无损测量,通过分析薄膜表面反射光和薄膜与基底界面反射光相干涉形成的反射谱,同时搭配R-Theta位移台,兼容6到12寸样...