Si基薄膜材料的可控制备及其电化学性能研究 热度: Si基体上双层Ti—O薄膜的XPS和AES分 析研究 薄膜上再沉积同质薄膜.在膜表层一定厚度内可得到 具有化学配比的Ti02薄膜;氩离子的轰击使钛及碳氧化物内迁ASi 基体,而Si外迁到膜内并 造成多价形式的Ti氧化物共存,TiO2在这些Ti氧化物中所占的比例 ...
XPS谱图中有机物中Si-O-Si的键位
XPS谱图中有机物中Si-O-Si的键位
采用射频磁控溅射法在RB SiC陶瓷基片上制备了无定型Si-C-O-N涂层,利用XPS分析了涂层的组成元素以及相应的结合状态.结果表明:离子轰击对Si,C和N的化学位移影响较大:经过离子轰击后Si-C和Si-N键所占比例上升,而Si-O键则稍有减少;C sp2有所上升,而C-Si键和C-N键则有所下降;N-Si键上升,而N-C键略有下降...
谁能告诉我XPS中 C=O,C-H,C-Si,Si-O的键能啊? 5 我来答 分享新浪微博QQ空间举报1个回答 #热议# 你见过哪些90后家长教育孩子的“神操作”?GGYYWWY 2007-03-24 · TA获得超过150个赞 知道小有建树答主 回答量:838 采纳率:0% 帮助的人:0 我也去答题访问个人页 关注 展开全部 说...
Si-Ti-C-O纤维的XPS研究Si-Ti-C-O纤维的XPS研究 王亦菲;冯春祥;宋永才 【期刊名称】《宇航材料工艺》 【年(卷),期】1999(029)006 【摘要】运用XPS分析手段系统研究了Si-Ti-C-O纤维的组成及其结构,并与SiC纤维进行比较.讨论了引入Ti后纤维的组成与结构的变化及其与性能的关系. 【总页数】4页(P30-33) ...
在超高真空条件下,通过脉冲激光沉积(PLD)技术制作了Er2O3/Al2O3/Si多层薄膜结构,原位条件下利用X射线光电子能谱(XPS)研究了Al2O3作为势垒层的Er2O3与Si界面的电子结构.XPS结果表明,Al2O3中Al的2p芯能级峰在低,高温退火前后没有变化;Er的4d芯能级峰来自于...
alloy has revealed the presence of Si and Mg alloying elements. The intensity of the Si signal shows a clear tendency to decrease with the temperature below 300◦C, while the M 除Al和O信号以外著名的出现在所有氧化作用温度(图1),对未经治疗的A361合金的表面的XPS分析显露了Si和镁合金元件出现...
文瑛目前担任贵阳鑫盛泰铝业有限公司、山西荣晋铝业有限公司法定代表人,同时担任佛山市神阳铝业有限公司监事,贵阳鑫盛泰铝业有限公司执行董事兼总经理;二、文瑛投资情况:文瑛间接持股企业6家,包括投资福州福乐铝业有限公司、投资占比达30%,昆明海川铝加工有限公司、投资占比达24%等;目前文瑛是5家企业最终受益人,包括其在...
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