聚焦离子/电子双束扫描电镜(fib-sem) 更新时间:2024年12月20日 综合排序 人气排序 价格 - 确定 所有地区 实力供应商 已核验企业 在线交易 安心购 查看详情 ￥1000.00万/件 上海 日立双束聚焦离子束系统NX5000 高性能FIB-SEM系统Ethos 在线交易 日立品牌 上海庄润国际贸易有限公司 3年 查看详情 ￥1000.00万...
捷克泰思肯 双束(FIB-SEM)聚焦扫描电镜系统TESCAN AMBER 品牌 价格 ￥888.00 起订量 1台起批 货源所属商家已经过真实性核验 发货地 广东 广州 型号 TESCANAMBER 888.00元 所属类目 仪器仪表;光学仪器;显微镜 产品标签 双束FIB;SEM聚焦扫描电镜系统;双束F泰思肯聚焦扫描电镜系统;双束FIB;SEM聚焦扫描电镜系...
众所周知，扫描电子显微镜 (SEM)、聚焦离子束(FIB-这里指的是离子束单束电镜)系统和 FIB-SEM（电子束-离子束双粒子束电镜）中积存的碳会导致成像伪影并影响 FIB-SEM 中制造的TEM薄片或结构的质量。这种影响的严重程度不仅取决于存在的碳量，还取决于碳与其他物质的结合状态。尽管如此,FIB-SEM并未对碳的存在和...
本公司生产销售聚焦扫描电镜系统 电镜系统,提供聚焦扫描电镜系统专业参数,聚焦扫描电镜系统价格,市场行情,优质商品批发,供应厂家等信息.聚焦扫描电镜系统 聚焦扫描电镜系统 品牌泰思肯|产地广东|价格888.00元|型号TESCAN AMBER|代理广东晟泽科技|规格进口广东聚焦扫描电镜系
(Scanning Electron Microscopy简称SEM)可以观察试样表面的形貌和成份,但是无法得到试样内部的信息,透射电子显微镜(Transmission Microscop简称TEM)尽管能够分析反映试样内部(或者表面)信息的薄膜试样的形貌,成份和结构信息,但是其前提条件是能够制备出待分析区域内的薄膜试样,常规透射电镜试样制备方法已经越来越难满足纳米材料...
众所周知,扫描电子显微镜 (SEM)、聚焦离子束(FIB-这里指的是离子束单束电镜)系统和 FIB-SEM(电子束-离子束双粒子束电镜)中积存的碳会导致成像伪影并影响 FIB-SEM 中制造的TEM薄片或结构的质量。这种影响的严重程度不仅取决于存在的碳量,还取决于碳与其他物质的结合状态。尽管如此,FIB-SEM并未对碳的存在和结合...
TESCAN-AMBER GMH FIB-SEM TESCAN-AMBER GMH FIB-SEM 系统是一款多功能的纳米分析仪器，它结合了聚焦离子束（FIB）和扫描电镜（SEM）技术，为材料科学研究提供了广泛的应用能力。以下是该系统的一些特色：高精度微样品制备：TESCAN AMBER系统能够进行高精度的微观样品制备，这对于需要进行详细分析和观察的复杂样品尤其...
DualBeam仪器系列包括多款FIB-SEM聚焦离子束扫描电子显微镜(双束电镜)产品,适用于自动结构分析、TEM 样品制备以及纳米原型设计。 联系我们 Focused ion beam scanning electron microscopy 学术界和工业界的科学家和工程师不断面临着需要对各种样品和材料进行高度局部表征的新挑战。提高这些材料质量的持续动力意味着常常...
FIB-SEM双束电镜仪器信息厂家：美国thermo scientific（FEI）型号：Scios 2技术参数1.电子束电流范围：1pA-400nA2.电子束电压：200V-30kV，具有减速模式3.电子束分辨率：0.7nm（30kV）、1.4nm（1kV）4.大束流Sidewinder离子镜筒5.离子束加速电压: 500V-30kV6.离子束分辨率：3.0nm（30KV）7.离子束束流：1....
友硕小编了解到近年来发展起来的聚焦离子束技术(FIB)采用高强度聚焦离子束纳米加工材料,并结合扫描电镜(SEM)和透射电子显微镜(TEM)三维原子探针(APT)分析电镜技术已成为纳米级分析,制造的主要手段。现已在新材料和半导体集成电路等领域得到广泛的应用。 蔡司双束扫描电镜...