3.FIB切割支架镀层：利用FIB切割支架镀层，避免了传统切片模式导致的金属延展、碎屑填充、厚度偏差大的弊端，高分辨率的电镜下，镀层晶格形貌、内部缺陷一览无遗。FIB-SEM扫描电镜下观察支架镀层截面形貌，镀层界限明显、结构及晶格形貌清晰，尺寸测量准确。此款支架在常规镀镍层上方镀铜，普通制样方法极其容易忽略此层结构...
聚焦离子束扫描电镜双束系统（FIB-SEM）是在SEM的基础上增加了聚焦离子束镜筒的双束系统，同时具备微纳加工和成像的功能，广泛应用于科学研究和半导体芯片研发等多个领域。本文介绍一下FIB-SEM在材料研究中的应用。1.定点剖面形貌和成分分析 图2a和b分别是梳子形状的CdS微米线的光学显微镜和扫描电镜照片，从光学显微...
图2a和b分别是梳子形状的CdS微米线的光学显微镜和扫描电镜照片,从光学显微镜照片可以看出在CdS微米线节点处内部含有其他物质,但无法确定是什么材料和内部形貌。利用FIB-SEM在节点处定点切割截面,然后对截面成像和做EDS mapping,如图2c、d、e和f所示,可以很直观的得到在CdS微米线的节点处内部含有Sn球。 ▲图2. CdS...
本公司生产销售聚焦扫描电镜系统 电镜系统,提供聚焦扫描电镜系统专业参数,聚焦扫描电镜系统价格,市场行情,优质商品批发,供应厂家等信息.聚焦扫描电镜系统 聚焦扫描电镜系统 品牌泰思肯|产地广东|价格888.00元|型号TESCAN AMBER|代理广东晟泽科技|规格进口广东聚焦扫描电镜系
以下是三台高性能的聚焦离子束扫描电子显微镜(FIB-SEM),型号分别为Zeiss Auriga Compact、FEI Helios Nanolab 450S和FEI Scios2。这些设备均配备了先进的X-Max大面积晶体电制冷能谱探头,专为轻元素分析设计,测试条件可达到≤127eV (Mn Ka 20,000cps),覆盖元素范围从Be4至Pu94,适用于Si晶体,活区面积达20mm...
TESCAN-AMBER GMH FIB-SEM TESCAN-AMBER GMH FIB-SEM 系统是一款多功能的纳米分析仪器，它结合了聚焦离子束（FIB）和扫描电镜（SEM）技术，为材料科学研究提供了广泛的应用能力。以下是该系统的一些特色：高精度微样品制备：TESCAN AMBER系统能够进行高精度的微观样品制备，这对于需要进行详细分析和观察的复杂样品尤其...
FIB - SEM双束系统是指同时具有聚焦离子束（Focused Ion Beam，FIB）和扫描电子显微镜（Scanning Electron Microscope，SEM）功能的系统，如图1。本发明能够实现SEM对FIB微加工过程进行实时观察的作用，集电子束高空间分辨率与离子束精细加工等优点于一体。 其中FIB就是把液态金属离子源输出的离子束加速后聚焦在试样表面...
聚焦离子束-扫描电子显微镜双束系统 FIB-SEM应用 聚焦离子束-扫描电镜双束系统主要用于表面二次电子形貌观察、能谱面扫描、样品截面观察、微小样品标记以及TEM超薄片样品的制备。1.FIB切片截面分析 FIB-SEM测试 FIB技术可以精确地在器件的特定微区进行截面观测，形成高分辨的清晰图像，并且对所加工的材料没有限制，同时...
平台FIB-SEM Helios 5 CX DualBeam 聚焦离子束-扫描电镜双束系统是指同时具有聚焦离子束(Focused Ion Beam,简称FIB)和扫描电子显微镜(Scanning Electron Microscope,简称SEM)功能的系统。通过结合相应的气体沉积装置、纳米操纵仪、各种探测器及可控的样品...
聚焦离子束扫描电镜双束系统（FIB-SEM）是一种先进的微纳加工和成像技术，它在材料科学研究中扮演着不可或缺的角色。本文将详细介绍FIB-SEM在材料研究中的应用，展示其在微观世界中的多面性和强大功能。定点剖面形貌与成分分析 FIB-SEM系统能够对材料进行精确的定点切割和分析，从而揭示材料内部的微观结构和成分。以...