EDS能谱分析是当X射线光子进入检测器后,在Si晶体内激发出一定数目的电子空穴对。产生一个空穴对的最低平均能量ε是一定的(在低温下平均为3.8ev),而由一个X射线光子造成的空穴对的数目为N=△E/ε,因此,入射X射线光子的能量越高,N就越大。利用加在晶体两端的偏压收集电子空穴对,经过前置放大器转换成电流脉冲,...
如果要分析材料微区成分元素种类与含量,往往有多种方法,打能谱就是我们最常用的手段。 能谱具有操作简单、分析速度快以及结果直观等特点,最重要的是其价格相比于高大上的电镜来说更为低廉,因此能谱也成为了目前电镜的标配。 今天这篇文章集齐了有关能谱(EDS)的各种问题,希望能给大家带来帮助。 Q:能谱的缩写是...
这样,大家应该就能理解,对于很多样品,TEM的EDS分析就是半定量的,对于轻元素,甚至只能定性,大家能做到的,就是选取适当合理的分析工具,尽量找到干扰小的区域,取多点分析平均(最好随机取20点以上),以尽量减少误差。 ③EDS的谱峰有很多峰位对应于一个元素,是不是说明这个元素含量很高? 看了EDS的原理这个问题就会明白。
EDS图像上的参数如何看?以图15为例,左边图为SEM测试微区范围,“EDS1”区域名称对应右边谱图中右上角的图例,表示该谱图为“EDS1”区域的谱图结果。横坐标表示X射线光子计数/cps,纵坐标表示X射线能量/keV。峰上标注为该峰对应的具体的元素符号Cu。(注1:EDS测试时,对于能量较低的、原子序数Z小于Na的轻...
EDS能谱分析是当X射线光子进入检测器后,在Si晶体内激发出一定数目的电子空穴对。产生一个空穴对的最低平均能量ε是一定的(在低温下平均为3.8ev),而由一个X射线光子造成的空穴对的数目为N=△E/ε,因此,入射X射线光子的能量越高,N就越大。利用加在晶体两端的偏压收集电子空穴对,经过前置放大器转换成电流脉冲,...
能谱EDS的采样深度大约为1 μm,可对试样微区内Be~U范围内的元素进行分析(SEM能谱一般只能测C(含C)以后的元素,其他元素也能做但是不准,不建议做)。根据扫描方式的不同可分为点扫、线扫和面扫。点扫和线扫都是对样品的某一位置进行微区元素分析,两者区别是扫描能谱的面积大小不一。点扫可以给出扫描元素的...
能谱EDS的采样深度大约为1 μm,可对试样微区内Be~U范围内的元素进行分析。根据扫描方式的不同可分为点扫、线扫和面扫。点扫和线扫都是对样品的某一位置进行微区元素分析,两者区别是扫描能谱的面积大小不一。点扫可以给出扫描元素的相对含量,测试准确性较高,常用于显微结构的成分分析。面扫是对样品某一区域的...
利用扫描电镜(SEM)中的能谱仪(EDS),可以实现块状样品的显微成分定量分析。利用牛津仪器EDS的Tru-Q定量技术,可以确保在不同电压下实现准确的有标样及无标样定量分析。在透射电镜(TEM)中,分析对象为薄样品,通常利用Cliff-Lorimer因子(K因子)法进行元素定量分析。此外,Dijkstra et al. [1], Boon[2],Watanabe及Willi...
SEM测试你一定要知道的 能谱EDS讲解——面扫解析#生化环材 #研究生 #实验室 #实验室日常 #科研 - 科学指南针于20240115发布在抖音,已经收获了42.7万个喜欢,来抖音,记录美好生活!
开始的时候能谱的缩写有很多,比如EDS,EDX,EDAX等,大家对此也都心照不宣,知道ED就是Energy Dispersive,后面因为X-ray Analysis和Spectrum这几个词的不同用法,导致了缩写的不同。而且相应的汉译也有很多,比如能量色散谱,能量散射谱等等。 不过,到了2004年左右,相关协会规定,EDS就是能谱或者能谱仪,EDX就是能谱学,...