AES-图谱特点和半定量计算方法。我们探究号科技会一直更新包括(XPS/ TOF-SIMS/ FIB/TEM/SEM-EDS/AES/AFM/ FTIR/ GC-MS/ etc)原理、应用、数据分析和材料分析、失效分析相关案例的免费技术纯干货。感谢每一位粉丝的关注和积极反馈!想尽快掌握相关专业知识的小伙伴可以参考我们新出的书《X射线光电子能谱数据分析...
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XPS-如何在Avantage软件下快速打开MULTIPAK软件的标准图谱。我们探究号科技会一直更新包括(XPS/ TOF-SIMS/ FIB/TEM/SEM-EDS/AES/AFM/ FTIR/ GC-MS/ etc)原理、应用、数据分析 - 探究号科技于20230918发布在抖音,已经收获了906个喜欢,来抖音,记录美好生活!
扫描电镜(Scanning Electron Microscope,简称SEM)是一种非接触式光学显微镜,通过高速电子流撞击样品表面,产生二次电子和背散射电子,再通过光束整形和信号处理,形成高分辨率的图像。其中,能谱分析(Energy-Dispersive Spectroscopy,简称EDS)是一种重要的表征手段,可以定量测定样品中各种元素的含量和化学成分。本文将介绍如何利...