1.扫描电镜(SEM) 质厚衬度:由样品不同微区的原子序数和厚度差异形成。 衍射衬度:由晶体试样各部分满足布拉格反射条件不同和结构振幅的差异形成。 2. 透射电镜(TEM) 质量厚度衬度:由样品不同微区间的原子序数或厚度差异形成。 五、样品要求 1. 扫描电镜(SEM):样品厚度无严格要求,可通过切、磨、抛光等方法制备...
· SEM:简单,可直接观察样品表面或断面 3. 分辨率 · TEM:分辨率更高,可以观察原子晶格像 · SEM:分辨率较低,最多只能表征纳米相 4. 性能 · TEM:可以表征样品的质厚衬度和内部晶格结构 · SEM:主要可以标定某一处的元素含量 5. 用途 · TEM:研究材料的微观结构、晶体结构和缺陷等 · SEM:观察材料的表面...
铣削:自动或手动完成铣削加工 图 铣削阶梯法制备的样品TEM照片 削薄法(H-bar): 使用机械切割和研磨等方法将试样做到50-100μm厚 使用FIB沉积一层Pt保护层 使用FIB铣削掉两侧的材料 图 削薄法工作示意图 扫描电镜(SEM) 扫描电镜样品制备比透射电镜样品制备简单,无需包埋和切片。 样品要求: 样品须为固体...
由于TEM得到的显微图像的质量强烈依赖于样品的厚度,因此样品观测部位要非常的薄,例如存储器器件的TEM样品一般只能有10～100nm的厚度,这给TEM制样带来很大的难度。 初学者制样时采用手工或机械控制研磨成品率较低,而一旦过多削磨就会导致此试样报废。TEM制样还存在观测点定位问题,通常制样仅能得到10mm数量级的薄型观...
高分辨率的透射电子显微镜(TEM)和扫描电镜(SEM)在材料分析研究中的应用日趋广泛,已经成为现代实验室中一种不可或缺的研究晶体结构和化学成分的综合仪器。透射电子显微镜常用于观察普通显微镜不能分辨的细微物质结构,扫描电子显微镜主要用于观察固体表面的形貌。有时,将两者有机结合可以得到比较全面的材料分析结果。下面将从...
从五大角度分析SEM和TEM的区别 有关扫描电镜与透射电镜的最大不同就是扫描电镜，它是对试样表面结构特征的一种观察；透射电镜是对试样内部精细结构进行观测；其次、扫描电镜相当和拍摄物体，所得为面，仅为面立体三维之图像；透射电镜相当于普通显微镜，它只是以波长较短的电子束代替能衍射的可见光来达到显微目的，它...
电子显微镜(TEM和SEM)作为现代材料表征的重要工具,其电子束与样品的相互作用不仅提供了丰富的信息,同时也可能对样品造成不可忽视的损伤。这些损伤效应主要源于两类电子散射机制:弹性散射和非弹性散射。 弹性散射主要发生在入射电子与原子核之间,虽然能够产生有价值的衍射图案和...
SEM还是TEM?选对测试方法! 大家应该都知道,扫描电子显微镜(SEM)和透射电子显微镜(TEM)各有千秋。SEM主要用于观察样品表面的形貌,而TEM则更适合研究样品的晶体特性。不过,有些样品可能不需要重复做这两种测试,这里有几个选择标准供大家参考: 样品大小 📏 如果你的样品尺寸在微米(um)级别,那么SEM可能是更好的选择。
在生物科学中,SEM可以用于观察细胞、组织和生物材料的形貌和结构。在纳米科学中,SEM可以用于研究纳米材料的形貌、尺寸和形状。此外,SEM还可以用于分析样品的成分和化学组成。 相比之下,TEM是一种通过透射电子束与样品相互作用来观察材料的内部结构和成分的方法。其工作原理如下:电子枪产生的电子束经过透镜系统形成一个...
TEM和SEM的区别,你真的知道吗? 🔍 扫描电子显微镜(SEM)和透射电子显微镜(TEM)是两种在科研和工业中广泛使用的电子显微镜技术。它们各自拥有独特的成像原理和应用领域。 🔬 SEM(扫描电子显微镜) 工作原理:SEM通过聚焦电子束扫描样品表面,利用样品表面受电子束激发产生的二次电子或背散射电子来形成图像。这些信号被探...