PCT是pressure cooker test的英文简称。指高压加速老化寿命试验。适用于国防、航天、汽车部件、电子零配件、塑胶、磁铁行业、制药线路板，多层线路板、IC、LCD、磁铁、灯饰、照明制品等产品之密封性能的检测，相关之产品作加速寿命试验，使用于在产品的设计阶段,用于快速暴露产品的缺陷和薄弱环节。测试其制品的耐厌性，...
PCT高压加速老化测试最主要是测试半导体封装之抗湿气能力,待测品被放置严苛的温湿度以及压力环境下测试,如果半导体封装的不好,湿气会沿着胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体之中，其常见的故障原因有爆米花效应、主动金属化区域腐蚀造成之断路封装体引脚间因污染造成之短路等相关问题。1PCT高压加速老化测试概念 PCT高压...
上海微谱检测科技集团股份有限公司 提供的 PCT老化测试,PCT是一种耐高温的热塑性塑料,它是由玻璃纤维和无机物填料加工而成的高性能材料。在原材料中加入一些稳定剂、阻燃剂和一些加工助剂即可加工成可以在高温环境下使用的PCT材质。PCT材质主要应用在一些需要短
PCT老化条件通常包括以下要素: 1.温度:PCT测试中使用的温度通常在100℃至130℃之间。常见的老化温度为121℃。 2.湿度:湿度是指测试环境中的相对湿度。PCT测试常用的湿度范围为85%至100%。常见的老化湿度为100%相对湿度。 3.压力:PCT测试需要使用加压装置,以增加环境中水的蒸发速度。常见的PCT老化压力为2至3大...
可程序PCT老化试验箱（又名PCT老化试验箱）用于测试半导体封装之湿气能力，待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试，湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体，PCT用于国防、航天、汽车部件、电子零配件、塑胶、制药、化工、多层线路板、光伏组件、EVA、IC、LED、LCD、磁性材料、高分子材料等等行业相关之产品...
PCT 老化实验是一种加速老化测试方法，用于评估材料在高温高压环境下的耐久性和稳定性。该实验通常在压力锅中进行，通过将样品暴露在高温高压的水蒸气中，模拟材料在实际使用中的老化情况。PCT 老化实验可以帮助制造商评估材料的质量和可靠性，优化产品设计，提高产品的使用寿命和安全性。检测样品 本次实验的检测样品为...
一、PCT高压加速老化试验箱的基本原理PCT高压加速老化试验箱，全称为Pressure Cooker Test（压力锅测试）设备，其核心在于通过高温、高湿及高压的综合作用，加速产品的老化过程。这种模拟环境远超过产品正常使用时可能遭遇的条件，从而有效缩短测试周期，提高测试效率。具体而言，试验箱内的温度和湿度可根据预设程序进行精确...
PCT老化试验箱，全称为压力循环温度老化试验箱（Pressure Cycle Temperature），是一种用于模拟环境的高温高湿或低温低湿条件下进行加速老化测试的设备。它被广泛应用于电子产品、光电子器件、汽车零部件、通讯设备等行业，用于判断产品在极端环境下的可靠性、稳定性和耐久性。德瑞检测设备 PCT老化试验箱的工作原理是通过...
PCT高压加速老化试验箱主要用于测试半导体封装之抗湿气能力,将待测品置于严苛的温度、饱和湿度(100%R.H)及压力环境下,测试其耐高湿能力。常见的测试失效现象主要包括以下几种: 爆米花效应:当吸收水汽含量高于0.17%时,爆米花现象就会发生。这通常是由于封装材料中的银膏或载板基材吸水,在后续高温处理过程中水汽汽化...