Park原子力显微镜帕克 NX-Wafer 原子力显微镜Park NX-Wafer可以用在纳米材料行业领域,用来检测半导体,可完成表面粗糙度测量项目。符合多项行业标准。 超高精度和最小化探针针尖变量的亚埃级表面粗糙度测量 晶圆厂唯一具有自动缺陷检测的原子力显微镜 用于高吞吐量CMP轮廓测量的高精确低噪声原子力轮廓仪 Park NX-Wafer...
Park NX-Wafer具有最高的纳米级表面分辨率和亚埃级的高精度。在持续扫描后,探针针尖的变化可以忽略不计,仍具有高超的针尖锐度保护力。Park NX-Wafer以其独特的自动系统功能而崭露头角,成为目前业界最先进的半导体AFM工具。该自动系统包括自动探针更换、实时监控、无参考标记的目标定位和自动分析。
型号:NX-Wafer 产地:韩国 关键词 :NX-Wafer,晶圆,原子力显微镜,AFM,工业级原子力显微镜 产品手册下载 高精度探针针尖变量的亚埃米级表面粗糙度测量,晶圆的表面粗糙度对于确定半导体器件的性能是至关重要的,对于先进的元件制造商,芯片制造商和晶圆供应商都要求对晶圆商超平坦表面进行更精确的粗糙度控制,通过提供低于0....
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Park NX-Wafer的特征长范围轮廓仪长范围轮廓仪是原子力轮廓仪(AFP)的重要组成部分,并且具有用于自动CMP轮廓扫描和分析的专用用户界面。• 200mm : 10 mm• 300mm : 25 mm (optional 10 mm or 50 mm)采用闭环双伺服系统的100μm×100μm柔性导向XY扫描器XY扫描仪由对称的二维挠曲和高-力的压电堆组成,...
帕克NX-Wafer原子力显微镜 自动化 高精度 提生产率 价格说明 价格:商品在平台的展示标价,具体的成交价格可能因商品参加活动等情况发生变化,也可能随着购买数量不同或所选规格不同而发生变化,如用户与商家线下达成协议,以线下协议的结算价格为准。 特别提示:商品详情页中(含主图)以文字或者图片形式标注的抢购价等...
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Park NX-Wafer产品彩页介绍2019-11-11 Park帕克原子力显微镜 0 Bytes [样本] 领域:电子/电器/半导体,纳米材料,高分子材料 资料类型:样本 NX-Wafer原子力显微镜提供精准的形貌量測,可用來监控化学机械研磨平面化制程,检测因材料差异所造成异质材料间的凹陷(dishing)效应与浸蚀(erosion)效应 NX-Wafer同時具备原子力...
产品编号:Park NX-Wafer 所属品牌:韩国帕克 产品型号:Park NX-Wafer 额定功率:按实际方案提供 所属类别:原子力显微镜 所属用途:表面分析 应用领域:产品特性:晶圆厂具有自动缺陷检测的原子力显微镜,全自动AFM解决了缺陷成像和分析问题,提高缺陷检测生产率达1000%.帕克的智能ADR技术提供全自动的缺陷检测和识别,使得...
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