型号 NSR-S205C 加工定制 是 颜色 银灰 形状 方形 分辨率 ≤130nm 镜头NA 0.75 曝光光源 248nm KrF 缩小比例 1:4 曝光范围 25mm*33mm 对准精度 ≤30nm 是否现货 是 库存数量 1 技术方案对接 是 新旧程度 二手 品牌 尼康Nikon 价格说明 价格:商品在爱采购的展示标价,具体的成交价格可能因商品...
“Nikon continues to demonstrate its technology and market leadership with the introduction of the NSR-S205C DUV scanner and its investment in capacity,” stated Frank Masciocchi, Vice President of sales and marketing for NPI. “The company has consistently provided new gen...
NSR-S205C Exposure Tool with 0.75 Numerical Aperture Projection Lens Is Capable of Producing 0.13-micron Features SAN FRANCISCO, Calif., July 10, 2000 – Nikon, the leading supplier of imaging tools for the semiconductor industry, today announced that the company is accepting orders for its fifth...
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尼康Nikon 二手翻新现货2000年 分辨率≤130nm 光刻机 NSR-S205C 在线交易 48小时发货 少货必赔 破损包赔 青岛佳鼎分析仪器有限公司 4年 查看详情 ￥216.48万/台 山东青岛 Nikon尼康二手现货 97年产 分辨率250nm KrF光刻机NSR-2205EX14C 在线交易 48小时发货 少货必赔 破损包赔 青岛佳鼎分析仪器有限公司 4年...
Nikon KrF光刻机NSR-S205C于2000年在新加坡生产,分辨率≤120nm。本台Nikon KrF光刻机NSR-S205C属于二手翻新现货,由国内WEI一完成过ArF, KrF, | Line, G Line全部工程案例的团队进行修改和技术方案对接,能够进行包括光学系统在内的QUAN面翻新、调试、测试,具备完整的运行保障能力,和备品备件的供应。
Exposure field22 mm square to 17.9 (H) × 25.2 (V) mm Alignment accuracy (EGA, |M| + 3σ)≦ 70 nm Alignment systemLSA (standard), FIA (optional), LIA (optional) Metrology/Inspection Systems Automatic Macro Inspection System AMI-5600/3500/3000 MarkⅡ ...
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