XPS反应的是非常表面信息，XRD是纯相的话，说明表面有变化而已，可以在做XPS之前用Ar离子轰击表面数秒，...
本人做了一镍的XPS测试，期望看到零价及2价镍的信号，虽然结果信号很弱，但是仍然可以看到有峰出现，...
与Ni3N@V2O3/NF相比,Pt-Ni3N@V2O3/NF中Ni(II)和Ni(+)的结合能明显向更高的方向转变(图2A)。这种转变表明,在引入V2O3之后,Ni的电荷转移加剧,导致Ni氧化到更高的氧化态。此外,高分辨V 2p XPS光谱表明,Pt-Ni3N@V2O3/NF催化剂的V(III)含量(21.7%)明显低于Ni3N@V2O3/NF催化剂(64.9%)(图2B)。这表明V2O3...
图3. E-EL电极上C 1s、O 1s、F 1s 和 P 2p 核心能级的XPS光谱。 图4. E-EL电极表面上选定的二次离子碎片的TOF-SIMS深度剖面,其中深度通过标准SiO2 的溅射速率校准。(a) 溅射深度范围从0到200nm;(b)(c) 溅射深度范围从0到30nm,用SEI的多层结构表示。 图5. E-EL电极的3D TOF-SIMS数据的MCR分析结...
样品的P 2p XPS谱显示磷酸盐离子的存在,表明这些离子是由表面磷化物氧化产生的(图2c)。XANES和EXAFS分析了纳米复合材料中金属元素的电子结构和配位环境。进一步表明,在磷酸化纳米复合材料中生成了金属磷化物。Ni-N键的存在证实了磷化后纳米复合材料中Ni-MOF结构的保存,并进一步证明了Co-N键在磷化过程中容易断裂并...
使用ex-situ XRD和XPS证明了基于H+和Zn2+的插入机理。然后使用ICP检测体系中锰离子浓度,证明Ni2+掺杂能够抑制体系锰溶解,最后通过计算体系的形成能证明被抑制的锰溶解归因于Ni2+掺杂后的Mn2O3较小的形成能。 要点五: Ni2+掺杂的Mn2O3作为锌离子软包电池正极的研究 ...
如图3F所示,XPS光谱中未检测到镍元素,表明Ni2+不参与反应,仅起 催化剂作用。为了进一步研究NiCl2在制备Bi/BiOCl/Bi2O2CO3中的作用,在KCl存在下将反应时间延长到24小时。如图2B所示,XRD表明仅制备了Bi/Bi2O2CO3。在NiCl2存在下反应24小时,Bi2O2CO3的接近消失(仅有两个微弱的小峰 存在),金属Bi的峰明显的...
有三价镍，也可以和2价共存，
图2. Ni/Ni(OH) 2 、Ni和Ni(OH) 2 的a)Ni 2p和b)O 1s XPS。c)Ni/Ni(OH) 2 在不同蚀刻深度下的Ni 2p XPS。d)XPS确定了Ni/Ni(OH) 2 的原子百分比深度分布作为Ar + 蚀刻深度的函数。 图3. Ni/Ni(OH) 2 、Ni和Ni(OH) 2 在各种施加电势的a)LSV,b)NH 3 和NO 2 - 的FE,c)NH 3 ...
Ni-P-CeO2化学复合镀层的XPS和AES分析王红艳(淮阴师院化学系淮阴223001)周苏闽(淮阴工业专科学校化工系)摘要运用SEM、AES和XPS分析了Ni2P2CeO2的镀层表面形貌及镀层组成。研究显示,Ni2P2CeO2镀层表面光滑、均匀、光洁度好,其相对原子摩尔分数分别为Ni75.51%、P13.37%、Ce2171%、O6.81%和Fe1.38%。镀层厚度为6.0Λ...