型号 NANOMAPD NANOMAP D光学探针双模式轮廓仪/三维形貌仪美国AEP Technology公司主要从事半导体检测设备, MEMS检测设备, 光学检测设备的生产制造,是表面测量解决方案行业的供应者 致力于材料表面形貌测量与检测。NANOMAP D光学双模式轮廓仪/三维形貌仪集白光干涉非接触测量法和大面积SPM扫描探针接触式 扫描成像于一个测...
NanoMap-D三维表面轮廓仪是用于表面结构测量和表面形貌分析的一款测量计量型设备。既可以用于科学研究,也可以用于工业产品的检测。 该款仪器可以看做是表面研究的万用表,采用接触式和非接触式功能集于一身的设计特点,弥补两种模式的局限,发挥表面形貌仪的测量极限。光学非接触式有速度快,直接三维成象,不破坏样品等特点...
NanoMap-D双模式扫描三维表面轮廓仪是用于表面结构测量和表面形貌分析的一款测量计量型设备。既可以用于科学研究,也可以用于工业产品的检测。1、三维表面结构:粗糙度,波纹度,表面结构,缺陷分析,晶粒分析等2、二维图像分析:距离,半径,斜坡,格子图, 轮廓线等3、表界面测量:透明表面形貌,薄膜厚度,透明薄膜下的表面4、...
NanoMap-D (双模式) 三维轮廓仪使成像提高到一个新的水平。它所具有技术竞争力在于接触式和光学三维轮廓仪的完美结合。自动采样运动和一键测量功能使得 NanoMap-D 在三维图像世界里向前更进一步。 通过利用接触式及非接触式双模式基于技术上的优势获得获得全面的表面特性。NanoMap-D给使用者带来更高水平的的测量灵活性...
型号:NanoMap-D 询价热线:021-50758086 50308503 尊敬的供应商,如果您对展示该产品有异议,请至电:400-034-1688我们将在第一时间处理! 服务项目 找维修 找配置 找授权 找证件 找寰熙 立即咨询 关注寰熙 微信扫码 数十万医疗设备随时查! 快速报价 寰熙自营 ...
NanoMap-D 台阶仪是用于表面结构测量和表面形貌分析的一款测量计量型设备。既可以用于科学研究,也可以用于工业产品的检测。 该款仪器可以看做是表面研究的万用表,采用接触式和非接触式功能集于一身的设计特点,弥补两种模式的局限,发挥表面形貌仪的测量极限。光学非接触式有速度快,直接三维成象,不破坏样品等特点。探针...
NanoMap-500LS的工作原理和使用方法 一、工作原理 针尖基接触三维表面轮廓仪NanoMap-LS是传统的接触式表面轮廓仪和扫描探针显微镜(SPM)完美的的结合,允许产生扫描区高分辨的二维及三维图像(Z轴范围从nm到1mm)。它产生详细的三维和二维图像达到150x150mm扫描面积。NanoMap是利用探针和待测物表面之原子力交互作用(一定要...
NanoMap-D是一款兼备了白光干涉非接触式和探针接触式的台阶仪。 NanoMap-D三维台阶仪是用于表面结构测量和表面形貌分析的一款测量计量型设备。既可以用于科学研究,也可以用于工业产品的检测。 该款仪器可以看做是表面研究的万用表,采用接触式和非接触式功能集于一身的设计特点,弥补两种模式的限,发挥表面形貌仪的测量...
NANOMAP D光学探针双模式轮廓仪/三维形貌仪美国AEP Technology公司主要从事半导体检测设备, MEMS检测设备, 光学检测设备的生产制造,是表面测量解决方案行业的领先供应者,专门致力于材料表面形貌测量与检测。NANOMAP D光学双模式轮廓仪/三维形貌仪集白光干涉非接触测量法和大面积SPM扫描探针接触式高精度扫描成像于一个测量平...