型号 NANOMAP-500LS NANOMAP 500LS接触式三维形貌仪/轮廓仪,既有高 度和准确度的局部(Local)SPM扫描,又具备大尺度和高测量速度;既可用来获得样品表面垂直分辨 达0.05nm的三维形态和形貌,又可以定量地测量表面粗糙度及关键尺寸,诸如晶粒、膜厚、孔洞深度、长宽、线粗糙度、面粗糙度等,并计算关键部位的面积和体积...
NANOMAP D光学探针双模式轮廓仪/三维形貌仪美国AEP Technology公司主要从事半导体检测设备, MEMS检测设备, 光学检测设备的生产制造,是表面测量解决方案行业的领先供应者,专门致力于材料表面形貌测量与检测。NANOMAP D光学双模式轮廓仪/三维形貌仪集白光干涉非接触测量法和大面积SPM扫描探针接触式高精度扫描成像于一个测量平...
免费查询更多nanomap 500ls接触式三维形貌仪/轮廓仪详细参数、实时报价、行情走势、优质商品批发/供应信息等,您还可以发布询价信息。
Aep Technology NanoMap-D双模式三维形貌仪 仪器简介: NanoMap-D (双模式) 三维轮廓仪使成像提高到一个新的水平。它所具有技术竞争力在于接触式和光学三维轮廓仪的完美结合。自动采样运动和一键测量功能使得 NanoMap-D 在三维图像世界里向前更进一步。 通过利用接触式及非接触式双模式基于技术上的优势获得获得全面的表...
NANOMAP 500LS轮廓仪/三维形貌仪,既有高精密度和准确度的局部(Local)SPM扫描,又具备大尺度和高测量速度;既可用来获得样品表面垂直分辨率高达0.05nm的三维形态和形貌,又可以定量地测量表面粗糙度及关键尺寸,诸如晶粒、膜厚、孔洞深度、长宽、线粗糙度、面粗糙度等,并计算关键部位的面积和体积等参数。样件无须专门处理...