FLASH闪存是一种内存技术,与RAM不同,在断电时它仍旧可以保留所存储的信息。尽管FLASH闪存在执行读写操作时并不像RAM那样快,但性能远远高于典型的硬盘。更为重要的是,FLASH闪存访问数据时几乎不存在任何时间延迟。FLASH闪存技术非常适合随机I/O,而虚拟服务器环境中恰恰存在大量的随机I/O。 对FLASH闪存主要的关注点之一...
1、直接使用DataRetention界面按步骤进行测试(如下图示);2、用Error Rate的测试方法,在室温下用NFA100-E对Nand Flash进行1000次P/E,然后写入一个伪随机数,将Nand Flash放入120°C温箱,34分13秒后取出,用NFA100-E Read Only模式验证Error Rate,依次做此类循环,没有Error Rate发生就表示数据可以保存一年。
大概样子就是上面这样,使用LGA-8封装,实际上驱动也是通用SD卡的驱动,相比与SD卡可以直接贴片到嵌入式设备中,并且体积更小,数据存储和SD卡存储一样。 我使用的型号是CSNP1GCR01-AOW, 不用写驱动程序自带坏块管理的NAND Flash(贴片式TF卡), 尺寸小巧,简单易用,兼容性强,稳定可靠, 固件可定制,LGA-8封装,标准SDI...
FLASH闪存是一种内存技术,与RAM不同,在断电时它仍旧可以保留所存储的信息。尽管FLASH闪存在执行读写操作时并不像RAM那样快,但性能远远高于典型的硬盘。更为重要的是,FLASH闪存访问数据时几乎不存在任何时间延迟。FLASH闪存技术非常适合随机I/O,而虚拟服务器环境中恰恰存在大量的随机I/O。 对FLASH闪存主要的关注点之一...
不用写驱动程序自带坏块管理的NAND Flash（贴片式TF卡），尺寸小巧，简单易用，兼容性强，稳定可靠，固件可定制，LGA-8封装，标准SDIO接口，兼容SPI/SD接口，兼容各大MCU平台，可替代普通TF卡/SD卡，尺寸6x8mm毫米，内置SLC晶圆擦写寿命10万次，通过1万次随机掉电测试耐高低温，支持工业级温度-40°~+85°，机贴...
Flash的性能与质量。总的来说就是，NAND Flash测试实际上就是检测并确定其寿命、质量与等级。
二、速度测试 最近比较忙,也一直没空发什么文章,这算是新年第一篇吧,正好最近收到了一个雷龙的flash芯片,先拿来玩一下吧。 有兴趣的小伙伴可以去雷龙官网找小姐姐领取一个免费试用。 一、简介 大概样子就是上面这样,使用LGA-8封装,实际上驱动也是通用SD卡的驱动,相比与SD卡可以直接贴片到嵌入式设备中,并且体积...
Flash闪存简介及“SD NAND Flash”产品测试 雷龙发展发布于:广东省2024.06.26 18:04 +1 首赞 不用写驱动程序自带坏块管理的NAND Flash(贴片式TF卡),尺寸小巧,简单易用,兼容性强,稳定可靠,固件可定制,LGA-8封装,标准SDIO接口,兼容SPI/SD接口,兼容各大MCU平台,可替代普通TF卡/SD卡,尺寸6x8mm毫米...
一、简介 雷龙的NAND flash芯片具有LGA-8封装，支持通用SD卡驱动，体积小巧，数据存储与SD卡一致。型号为CSNP1GCR01-AOW，自带坏块管理，无需编写驱动程序。尺寸为6x8mm，内置SLC晶圆擦写寿命10万次，通过1万次随机掉电测试，耐高低温，支持工业级温度范围-40°~+85°，适用于多种场景。二、速度测试 ...