MIL-STD-883EMethod1009.822月3年-198911009.8方 法)腐蚀(盐雾。目的。这个测试提出了一种加速实验室腐蚀 试验模拟海岸大气对设备和包装元素的影响1术语和定义。1 1腐蚀。腐蚀是恶化的涂层或贱金属或两者的化学或电化学作 用1.1.1腐蚀位置。腐蚀位置是这测试产品的涂层或金属底材 ...
MIL-STD-883E- 1989年3月Method1009.822 1 方法1009.8 盐雾(腐蚀) 1。目的。这个测试提出了一种加速实验室腐蚀试验模拟海岸大气对设备和包装元素的影响 1 1术语和定义。 1.1.1腐蚀。腐蚀是恶化的涂层或贱金属或两者的化学或电化学作用 1 1 2腐蚀位置。腐蚀位置是这测试产品的涂层或金属底材或两者都被的腐蚀。
MIL-STD-883E- 1989年3月Method 1009.822 1 方法1009.8 盐雾(腐蚀) 1。目的。这个测试提出了一种加速实验室腐蚀试验模拟海岸大气对设备和包装元素的影响 1 1术语和定义。 1.1.1腐蚀。腐蚀是恶化的涂层或贱金属或两者的化学或电化学作用 1 1 2腐蚀位置。腐蚀位置是这测试产品的涂层或金属底材或两者都被的腐蚀...
METHOD NO. TEST PROCEDURES 5001 Parameter mean value control 5002.1Parameter distribution control 5003 Failure analysis procedures for microcircuits 5004.10 Screening procedures 5005.13 Qualification and quality conformance procedures 5006 Limit testing 5007.6Wafer lot acceptance 5008.8Test procedures for hybrid and...
1、MIL-STD-883E-1989年3月Method1009.8221方法1009.8盐雾(腐蚀)1。目的。这个测试提出了一种加速实验室腐蚀试验模拟海岸大气对设备和包装元素的影响11术语和定义。1.1.1腐蚀。腐蚀是恶化的涂层或贱金属或两者的化学或电化学作用112腐蚀位置。腐蚀位置是这测试产品的涂层或金属底材或两者都被的腐蚀。1.1.3腐蚀产品(...
MIL-STD-883EMETHOD 3015.722 March 19891METHOD 3015.7ELECTROSTATIC DISCHARGE SENSITIVITY CLASSIFICATION*1. PURPOSE. This method establishes the procedure for classifying microcircuits according to their susceptibility to damageor degradation by exposure to electrostatic discharge (ESD). This classification is use...
MIL-STD-883E METHOD 1012.1 THERMAL CHARACTERISTICS 1. PURPOSE. The purpose of this test is to determine the thermal characteristics of microelectronic devices. This includes junction temperature, thermal resistance, case and mounting temperature and thermal response time of the microelectronic devices. ...
内容提示: MIL-STD-883EMETHOD 3015.722 March 19891METHOD 3015.7ELECTROSTATIC DISCHARGE SENSITIVITY CLASSIFICATION*1. PURPOSE. This method establishes the procedure for classifying microcircuits according to their susceptibility to damageor degradation by exposure to electrostatic discharge (ESD). This ...
MIL MIL-STD-883E-1996测试方法标准微电路(取代 MIL-STD-883D)(S/S BY MIL-STD-883F) TEST METHOD STANDARD MICROCIRCUITS (SUPERSEDING MIL-STD-883D) (S/S BY MIL-STD-883F) 被代替首页标准MIL MIL-STD-883E-1996MIL MIL-STD-883E-1996 发布历史MIL MIL-STD-883E-1996...
内容提示: CHANGES TO REVISION E OF MIL-STD-883 26 December 1996Military/ IndustryNumber Page123456METHODChangei Cover Page Change to a "Test Method Standard Microcircuits"iiForward2. Change to Columbus AddressivMethod 2015.11 Method revised1Para 1.1 Line 4 deleted "environmental" Redundant, already...