MIL-STD-883EMethod1009.822月3年-198911009.8方 法)腐蚀(盐雾。目的。这个测试提出了一种加速实验室腐蚀 试验模拟海岸大气对设备和包装元素的影响1术语和定义。1 1腐蚀。腐蚀是恶化的涂层或贱金属或两者的化学或电化学作 用1.1.1腐蚀位置。腐蚀位置是这测试产品的涂层或金属底材 ...
MIL-STD-883E- 1989年3月Method1009.822 1 方法1009.8 盐雾(腐蚀) 1。目的。这个测试提出了一种加速实验室腐蚀试验模拟海岸大气对设备和包装元素的影响 1 1术语和定义。 1.1.1腐蚀。腐蚀是恶化的涂层或贱金属或两者的化学或电化学作用 1 1 2腐蚀位置。腐蚀位置是这测试产品的涂层或金属底材或两者都被的腐蚀。
MIL-STD-883E- 1989年3月Method 1009.822 1 方法1009.8 盐雾(腐蚀) 1。目的。这个测试提出了一种加速实验室腐蚀试验模拟海岸大气对设备和包装元素的影响 1 1术语和定义。 1.1.1腐蚀。腐蚀是恶化的涂层或贱金属或两者的化学或电化学作用 1 1 2腐蚀位置。腐蚀位置是这测试产品的涂层或金属底材或两者都被的腐蚀...
MIL-STD-883E vi TEST METHODS METHOD NO. TEST PROCEDURES 5001 Parameter mean value control 5002.1Parameter distribution control 5003 Failure analysis procedures for microcircuits 5004.10 Screening procedures 5005.13 Qualification and quality conformance procedures 5006 Limit testing 5007.6Wafer lot acceptance 500...
1、MIL-STD-883E-1989年3月Method1009.8221方法1009.8盐雾(腐蚀)1。目的。这个测试提出了一种加速实验室腐蚀试验模拟海岸大气对设备和包装元素的影响11术语和定义。1.1.1腐蚀。腐蚀是恶化的涂层或贱金属或两者的化学或电化学作用112腐蚀位置。腐蚀位置是这测试产品的涂层或金属底材或两者都被的腐蚀。1.1.3腐蚀产品(...
MIL-STD-883EMETHOD 3015.722 March 19891METHOD 3015.7ELECTROSTATIC DISCHARGE SENSITIVITY CLASSIFICATION*1. PURPOSE. This method establishes the procedure for classifying microcircuits according to their susceptibility to damageor degradation by exposure to electrostatic discharge (ESD). This classification is use...
MIL-STD-883E, METHOD 2011.11: STATIC ELECTRICAL DISCHARGE TESTING 1. Introduction MIL-STD-883E, Method 2011.11 is a standard used for testing the susceptibility of semiconductor devices to damage from electrostatic discharges. This method is used to evaluate the performance of semiconductor devices ...
METHOD 1012.1 4 November 1980 7 MIL-STD-883E 3.4.1 Calculations of package thermal resistance. The thermal resistance of a microelectronic device can be calculated when the peak junction, average junction, or region junction temperature, TJ(Peak), TJ(Avg), or TJ(Region), respectively, has ...
MIL-STD-883E3015 7-HBM 下载积分: 700 内容提示: MIL-STD-883EMETHOD 3015.722 March 19891METHOD 3015.7ELECTROSTATIC DISCHARGE SENSITIVITY CLASSIFICATION*1. PURPOSE. This method establishes the procedure for classifying microcircuits according to their susceptibility to damageor degradation by exposure to ...
MIL MIL-STD-883F-2004 当前最新 MIL MIL-STD-883L-2019 适用范围 建立统一的方法、控制和程序,用于测试适用于军事和航空航天电子系统的微电子设备,包括基本环境测试,以确定其对自然元素有害影响的抵抗力。 购买 正式版MIL MIL-STD-883E-1996相似标准MIL...