专利摘要显示，一种高测试覆盖性的MCU通用测试平台，包括激励板、母板、子板、被测MCU芯片、上位机和外设测试资源；被测MCU芯片通过子板上的芯片测试座与子板互连，子板与母板互连，用于母板接收到的测试命令发送给子板，子板将测试数据传输到母板；母板与激励板互连，用于激励板发送测试指令给母板，母板将测试数据传...
2025年2月13日,金融界报道称,江苏华创微系统有限公司近日喜获国家知识产权局授予的专利,专利名称为“一种高测试覆盖性的MCU通用测试平台”(公告号:CN222439616U),这一重大突破标志着该公司在芯片测试领域的持续创新。 这一MCU通用测试平台具备强大的能力,能够对不同型号和封装的MCU芯片进行全功能测试,极大地提升了测...
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