KPFM – Kelvin Probe Force Microscopy 开尔文探针显微镜EFM – Electrostatic Force Microscopy 静电力显微镜MFM – Magnetic Force Microscopy 磁力显微镜 KPFM详细原理 扫图时同一行扫描两次,第一次轻敲模式扫描形貌(获得样品表面高度信息),第二次探针提升一定高度并和样品保持恒定高度差(Nap模式特有,不接触样品表面) 导...
1. KPFM，即开尔文探针力显微镜，以其独特的Nap模式在表面科学领域发挥着重要作用。2. Nap模式的核心在于通过精细的双扫描策略，首先轻触以获取表面形貌，然后提升探针高度，排除近程力的影响，专注于静电力和磁场力的研究。3. KPFM、EFM和MFM技术均继承了Nap模式的精髓。4. KPFM的工作原理通过两次扫描，...
Kelvin探针力显微镜（KPFM）是一种用于测量样品表面电势和功函数的先进工具。其原理基于轻敲模式和Nap模式，使得研究人员能够深入探索样品表面的物理特性。双次扫描振幅调制 KPFM 模式是 KPFM 中最常用的模式之一，同时还有其他模式如单次扫描振幅调制 KPFM 和频率调制 KPFM。在 KPFM 中，通过探针与样品表面...
其工作原理巧妙而精确：通过两次扫描，通过调整直流电压，探针振幅达到最小，从而精确测定表面电势。要测量功函数，必须进行校准和测试，确保样品接地，公式V = (V_sample - w/e) * e是关键。校准过程依赖于已知功函数的标准样本，而测试则在与校准相同的条件下进行。在Nap模式中，二次扫描时压电马达...