开尔文探针力显微镜(Kelvin Probe Force Microscope, KPFM)是一种通过探针与样品之间的接触电势差来获取样品功函数和表电势分布的扫描探针显微镜。KPFM广泛应用于金属、半导体、生物等材料表面电势变化和纳米结构电子性能的研究。 原理:基于扫描...
Nap模式中提升高度的探针可以避免近程力的影响(主要研究目标是长程力:静电力和磁场力) 有哪些模式基于Nap模式? KPFM – Kelvin Probe Force Microscopy 开尔文探针显微镜EFM – Electrostatic Force Microscopy 静电力显微镜MFM – Magnetic Force Microscopy 磁力显微镜 KPFM详细原理 扫图时同一行扫描两次,第一次轻敲模式...
开尔文探针力显微或KPFM 是扫描探针显微镜中可用来绘制样品的表面电势或功函数的一系列电学表征方法的一员。 KPFM 可提供有关样品表面的接触电势或功函数的信息,从而提供与样品电学特性相关的对比机制。功函数在固态物理学中被定义为把一个电子从固体费米能级移到真空中所需的能量;功函数因而是表面的属性,而不是整体...
开尔文探针力显微镜(Kelvin Probe Force Microscopy,KPFM)是一种非常强大的工具,它能够同时获取样品的微观表面形貌和表面电学性质信息,而无需对样品造成损伤。KPFM主要测试导电探针和样品表面的接触电势差(CPD),这使得它能够清晰地分辨出合金样品中不同材料的电势差分布。🔍 在图2中,你可以看到KPFM如何准确地区分合金样...
金属和半导体纳米结构可用于从生物传感器到太阳能电池的各类设备中。因为纳米结构、表面和设备的表面电位会对局部的化学和物理现象产生强烈的影响,研究人员对分析这些性能很感兴趣,。开尔文探针力显微镜(KPFM)可以对各种样品进行高分辨率的表面电位和形貌成像。
3、开尔文探针力显微镜表征(KPFM) 开尔文探针力显微镜(Kelvin Probe Force Microscopy KPFM)通常测试的是导电探针和样品表面的接触电势差(CPD),它可以在不损伤样品的情况下同时得到待测样品的微观表面形貌和表面电学性质的信息,例如图4中KPFM可以清晰、准确地分辨合金样品中不同材料的电势差分布。
网络探针力显微镜(Kelvin Probe Force Microscopy);开尔文力显微镜;开尔文探针力显微镜(kelvin probe force microscope) 网络释义
除了通过AFM对过渡金属硫化物的粗糙度和层台阶高度进行统计分析之外，利用基AFM的开尔文探针力显微镜 (KPFM)，能够越来越多地用于可视化二维/衬底系统中的充电效应、二维/二维异质结构和晶粒中的探针电荷转移边界[1, 2, 3]。KPFM 允许在纳米尺度上对表面和器件的电学特性进行表征。它主要通过探测AFM探针针尖和样品之间...
聚合物太阳能电池的电特性扫描探针显微技术 力显微技术(conductive atomic force microscopy,C—AFM),开尔文探针力显微技术(Kelvin probe force microscopy,KPFM)等在PSC活化层的结构和局域电学特性表征中的应用,... 李灯华,李超,杨延莲,... - 《科学通报》 被引量: 0发表: 2013年 ...